M6 JETSTREAM用于文物樣品檢測
主要特點(diǎn):
1.M6 JETSTREAM不僅可以分析水平放置的樣品,還可以分析垂直放置的樣品。
2.在高激發(fā)強(qiáng)度以及樣品臺的快速移動情況下,仍可實(shí)現(xiàn)快速檢測。
3.M6 JETSTREAM的光斑大小可以在5步之內(nèi),根據(jù)樣品結(jié)構(gòu)及所需空間分辨率調(diào)整到相應(yīng)的尺寸。
4.采用布魯克*的XFlash®硅漂移探測器,該探測器具有很高的計(jì)數(shù)率能力,在很寬的計(jì)數(shù)率范圍內(nèi)擁有的能量分辨率。
5.特別的安全電路為用戶提供的X射線輻射風(fēng)險(xiǎn)防范措施。
6.超聲波測距措施可以防止儀器與被測樣品發(fā)生碰撞。
7.由于M6 JETSTREAM的可移動性,不論樣品結(jié)構(gòu)如何,它都可以很容易的準(zhǔn)確定位。另外,M6 JETSTREAM可以很方便的拆卸成四部分,使其便于攜帶。
X射線熒光能譜儀M4 TORNADO
儀器簡介:
微區(qū)X射線熒光光譜分析技術(shù)是對不均勻樣品、不規(guī)則樣品、甚至小件樣品和包裹物進(jìn)行高靈敏度的、非破壞性的元素分析的*方法。采用多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦鏡將激 發(fā)光聚焦到非常小的區(qū)域,以獲得的空間分辨率,進(jìn)行快速分析。任何類型的樣品都可以通過簡單的樣品制備甚至不制備直接進(jìn)行分析。
測定鍍層樣品厚度及成分
采用X射線熒光技術(shù)的M4可以分析薄鍍層樣品,如印刷電路板、金屬或塑料件,包括單層鍍層和多層鍍層。XSpect軟件采用無標(biāo)樣基本參數(shù)法,可以同時(shí)計(jì)算鍍層厚度和鍍層組成。使用標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)一步提高定量分析的準(zhǔn)確性
RoHS檢測
測量一個(gè)PCB樣品。u安蘇的面分布圖顯示了下列元素的分布情況:Br(綠色)、Cu(紅色)、Au(黃色)、Pb(白色)和Sn(粉紅色)
圖像的原始大小:250×75像素
測量時(shí)間:0.15s/像素
主要特點(diǎn):
M4 TORNADO采用了全新的技術(shù),為各種用戶提供了的分析性能和非常方便的操控性。
采用多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦鏡,照射光斑zui小,空間分辨率zui高。
渦輪增速X-Y-Z樣品臺,借助放大倍數(shù)可變的攝像系統(tǒng)獲得高品質(zhì)的樣品影像,可在“飛行中”進(jìn)行元素分布分析。
高強(qiáng)度的X射線光管與多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦鏡相結(jié)合,確保在非常小的照射區(qū)域內(nèi)獲得非常高的激發(fā)強(qiáng)度。采用濾光片和可以同時(shí)使用的配有不同靶材的雙光管,可以根據(jù)不同的分析要求,優(yōu)化激發(fā)光譜。
使用XFlash®探測器超高速地獲取樣品圖譜,另外,使用多個(gè)探測器可以進(jìn)一步提高測量速度。
采用無標(biāo)樣分析法精確定量分析塊狀樣品,精確分析多層膜樣品。
可抽真空的樣品室配有自動門,大尺寸的樣品室可以放置各種尺寸的樣品。通過兩個(gè)放大倍數(shù)可變的攝像系統(tǒng)觀察樣品(整體觀察和分析區(qū)域的細(xì)致觀察),便捷進(jìn)樣功能和自動對焦功能可以進(jìn)行快速而精確的定位。通過用戶編輯的X-Y-Z樣品臺運(yùn)行程序可實(shí)現(xiàn)重復(fù)測量。