-40度-150度高低溫實(shí)驗(yàn)箱高溫老化箱是按照下列標(biāo)準(zhǔn)之一或其結(jié)合為依據(jù)而制造的:
GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10586-89 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備
GB2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
GB2423.3-91電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法
GB2423.4-91電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法
GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
-40度-150度高低溫實(shí)驗(yàn)箱高溫老化箱設(shè)備的主要技術(shù)指標(biāo)
1 、溫度范圍:0℃、-20℃、-40℃、-50℃、-60℃、-70℃~+100(150)℃
2 、濕度范圍:20%~98%RH
3 、溫度波動(dòng)度:±0.5℃
4 、溫度偏差:≤2℃
5 、濕度偏差:+2-3 %RH
6 、升降溫速率:0.7~1℃/min
規(guī)格尺寸及型號(hào)
型號(hào) | 溫度范圍 | 內(nèi)箱尺寸 | 外箱尺寸 |
YS-80-880L | 0~150度 L | 40*50*40cm | 97*136*97cm |
YS-150-880L | 50*60*50cm | 107*145*107cm | |
YS-225-880L | 50*75*60cm | 107*161*118cm | |
YS-408-880L | 60*85*80cm | 117*171*127cm | |
YS-800-880L | 100*100*80cm | 155*185*130cm | |
YS-1000-880L | 100*100*100cm | 155*185*147cm |
濕度控制范圍圖
設(shè)備的安全保護(hù)裝置
1.電源超載、短路保護(hù)
2.接地保護(hù)
3.超溫保護(hù)
4.缺水保護(hù)
5.壓縮過(guò)壓、過(guò)載保護(hù)
6.為保護(hù)設(shè)備,所有報(bào)警均會(huì)自動(dòng)切斷電源,并發(fā)出聲訊提示。
設(shè)備的使用現(xiàn)場(chǎng)的條件
1.溫度:15℃~35℃
2.相對(duì)濕度:不大于85%RH
3.周圍無(wú)強(qiáng)烈振動(dòng)、無(wú)強(qiáng)烈電磁場(chǎng)影響
4.周圍無(wú)高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)
5.無(wú)陽(yáng)光直接照射或其它熱源直接輻射
6.周圍無(wú)強(qiáng)烈氣流,當(dāng)周圍空氣需要強(qiáng)制流時(shí),氣流不應(yīng)直接吹到箱體上。
7.試驗(yàn)箱應(yīng)放置平穩(wěn),保持水平。
8.試驗(yàn)箱的四周應(yīng)留有一定的距離,方便維修操作。
9.安裝場(chǎng)地通風(fēng)良好
10.良好接地
服務(wù)承諾
1.免費(fèi)上門(mén)安裝調(diào)試、培訓(xùn)操作人員。
2.產(chǎn)品自交付用戶使用之日起包修壹年,但下述情況除外:
a.需方操作失誤,出現(xiàn)人為故障和損壞;