ST-SP 2002_5
晶體管測(cè)試儀
可測(cè)試 19大類27分類 大中小功率的 分立器件及模塊的 靜態(tài)直流參數(shù)
（測(cè)試范圍包括 Si/SiC/GaN 材料的 IGBTs/DIODEs/MOSFETs/BJTs/SCRs 等器件）
主極輸出 2000V / 50~1250A，分辨率高至1mV / 10pA
支持曲線掃描圖示功能
♦ 產(chǎn)品應(yīng)用
應(yīng)用領(lǐng)域
院所、高校、半導(dǎo)體器件生產(chǎn)廠商、電源、變頻器、逆變器、變流器、數(shù)控、電焊機(jī)、白色家電、新能源汽車、軌道機(jī)車等所有的半導(dǎo)體器件應(yīng)用產(chǎn)業(yè)鏈 ……
主要用途
⇒ 測(cè)試分析（功率器件研發(fā)設(shè)計(jì)階段的初始測(cè)試）
⇒ 失效分析（對(duì)失效器件進(jìn)行測(cè)試，查找失效機(jī)理。以便于對(duì)電子整機(jī)的整體設(shè)計(jì)和使用過(guò)程提出改善方案 ）
⇒ 選型配對(duì)（在器件焊接至電路板之前進(jìn)行全部測(cè)試，將測(cè)試數(shù)據(jù)比較*的器件進(jìn)行分類配對(duì)）
⇒ 來(lái)料檢驗(yàn)（研究所及電子廠的質(zhì)量部（IQC）對(duì)入廠器件進(jìn)行抽檢/全檢，把控器件的良品率）
⇒ 產(chǎn)線自動(dòng)化測(cè)試（可連接機(jī)械手、掃碼槍、分選機(jī)等各類輔助機(jī)械設(shè)備，實(shí)現(xiàn)規(guī)?；?、自動(dòng)化測(cè)試）
♦ 產(chǎn)品簡(jiǎn)述
產(chǎn)品擴(kuò)展性強(qiáng)，通過(guò)選件可以提高電壓、電流和測(cè)試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測(cè)器件的測(cè)試條點(diǎn)擊即可完成測(cè)試任務(wù)。系統(tǒng)采用帶有開(kāi)爾文感應(yīng)結(jié)構(gòu)的測(cè)試插座，自動(dòng)補(bǔ)償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測(cè)試電纜長(zhǎng)度引起的任何壓降，保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確可靠。面板顯示裝置可及時(shí)顯示系統(tǒng)的各種工作狀態(tài)和測(cè)試結(jié)果,前面板的功能按鍵方便了系統(tǒng)操作。通過(guò)功能按鍵，系統(tǒng)可以脫離主控計(jì)算機(jī)獨(dú)立完成多種工作。
曲線追蹤儀（晶體管圖示儀）功能則是利用高速ATE測(cè)試步驟逐點(diǎn)生成曲線，可快速而準(zhǔn)確地生成精確的數(shù)據(jù)點(diǎn)。數(shù)據(jù)增量是可編程的線性或?qū)?shù)，典型的每步測(cè)試時(shí)間為6到20ms。一個(gè)兩百條數(shù)據(jù)點(diǎn)曲線通常只需幾秒鐘就能完成。使用該系列跟蹤儀更容易獲取諸如 Transistor hFE vs. IC, Transistor VCESAT vs. IB and MOSFETRDSvs. VGS 等曲線數(shù)據(jù)。此外， 針對(duì)多條曲線，設(shè)備可以根據(jù)每條曲線的數(shù)據(jù)運(yùn)行并將所獲數(shù)據(jù)自動(dòng)發(fā)送到一個(gè)單獨(dú)的 Excel 工作表。系統(tǒng)能夠更快，更簡(jiǎn)潔的創(chuàng)*線（單擊，雙擊，選擇輸入菜單，單擊）。就是這么簡(jiǎn)單。
設(shè)備支持在單個(gè) DUT 上運(yùn)行高達(dá) 10 條不同曲線的能力，在運(yùn)行過(guò)程中，每個(gè)圖表都是可視的，每個(gè)數(shù)據(jù)集都被加載到一個(gè)被命名的 Excel 工作表中。系統(tǒng)運(yùn)行速度快，可進(jìn)行數(shù)據(jù)記錄，提供更高級(jí)的數(shù)據(jù)工具箱，能夠運(yùn)行多條曲線并自動(dòng)排序，自動(dòng)將數(shù)據(jù)存入 Excel 表格，具有縮放功能，光標(biāo)重新運(yùn)行功能以及其他許多優(yōu)點(diǎn)。
系統(tǒng)提供與機(jī)械手、探針臺(tái)、電腦的連接口，可以支持各種不同輔助設(shè)備的相互連接使用。
♦ 產(chǎn)品特點(diǎn)
Ø測(cè)試范圍廣（19大類，27分類）
Ø升級(jí)擴(kuò)展性強(qiáng)，通過(guò)選件可提高電壓電流，和增加測(cè)試品種范圍。支持電壓電流階梯升級(jí)至2000V,1250A
Ø采用脈沖測(cè)試法，脈沖寬度為美軍標(biāo)規(guī)定的300us
Ø被測(cè)器件引腿接觸自動(dòng)判斷功能，遇到器件接觸不良時(shí)系統(tǒng)自動(dòng)停止測(cè)試, 保證被測(cè)器件不受損壞
Ø真正的動(dòng)態(tài)跨導(dǎo)測(cè)試。（主流的直流方法測(cè)動(dòng)態(tài)跨導(dǎo) ，其結(jié)果與器件實(shí)際值偏差很大）
Ø系統(tǒng)故障在線判斷修復(fù)能力，便于應(yīng)急處理排障
Ø二極管極性自動(dòng)判別功能，無(wú)需人工操作
ØIV 曲線顯示 / 局部放大
Ø程序保護(hù)大電流/電壓,以防損壞
Ø品種繁多的曲線
Ø可編程的數(shù)據(jù)點(diǎn)對(duì)應(yīng)
Ø 增加線性或?qū)?shù)
Ø可編程延遲時(shí)間可減少器件發(fā)熱
Ø保存和重新導(dǎo)入入口程序
Ø保存和導(dǎo)入之前捕獲圖象
Ø曲線數(shù)據(jù)直接導(dǎo)入到 EXCEL
Ø曲線程序和數(shù)據(jù)自動(dòng)存入 EXCEL
♦ 測(cè)試能力
| 序號(hào) | 測(cè)試器件 | 測(cè)試參數(shù) |
| 01 | IGBT | ICES；IGESF；IGESR；BVCES；VGETH；VCESAT；ICON；VGEON；VF；GFS |
| 02 | MOSFET / MOS場(chǎng)效應(yīng)管 | IDSS；IDSV；IGSSF； IGSSR；VGSF；VGSR；BVDSS；VGSTH；VDSON、VF(VSD) IDON；VGSON；RDSON；GFS |
| 03 | J-FET / J型場(chǎng)效應(yīng)管 | IGSS；IDOFF；IDGO；BVDGO；BVGSS；VDSON，VGSON；IDSS；GFS；VGSOFF |
| 04 | 晶體管（NPN/PNP） | ICBO；ICEO；ICER； ICES； ICEV；IEBO；BVCEO ；BVCBO；BVEBO；HFE；VCESAT；VBESAT；VBE(VBEON)；RE；VF |
| 05 | DIODE / 二極管 | IR；BVR ；VF |
| 06 | ZENER / 穩(wěn)壓、齊納二極管 | IR；BVZ；VF；ZZ |
| 07 | DIAC / 雙向觸發(fā)二極管 | VF+,VF-,VBO+,VBO-,IBO+,IBO-,IR+,IR-, |
| 08 | OPTO-COUPLER / 光電耦合 | ICOFF、ICBO；IR；BVCEO；BVECO；BVCBO；BVEBO；CTR；HFE；VCESAT； VSAT；VF(Opto-Diode) |
| 09 | RELAY / 繼電器 | RCOIL；VOPER；VREL；RCONT；OPTIME； RELTIME |
| 10 | TRIAC / 雙向可控硅 | VD+；VD-；VT+ ； VT-；IGT；VGT ；IL+；IL-；IH+；IH- |
| 11 | SCR / 可控硅 | IDRM；IRRM；IGKO；VDRM；VRRM；BVGKO；VTM；IGT；VGT；IL；IH |
| 12 | STS / 硅觸發(fā)可控硅 | IH+； IH-；VSW+ ； VSW-；VPK+ ；VPK-；VGSW+；VGSW- |
| 13 | DARLINTON / 達(dá)林頓陣列 | ICBO；ICEO；ICER；ICES；ICEX；IEBO；BVCEO；BVCER；BVCEE；BVCES；BVCBO；BVEBO；hFE；VCESAT；VBESAT；VBEON |
| 14 | REGULATOR / 三端穩(wěn)壓器 | Vout；Iin； |
| 15 | OPTO-SWITCH / 光電開(kāi)關(guān) | ICOFF；VD；IGT；VON；ION ；IOFF |
| 16 | OPTO-LOGIC / 光電邏輯 | IR；VF；VOH；VOL；IFON； IFOFF |
| 17 | MOV / 金屬氧化物壓變電阻 | ID+ ID-；VN+； VN-；VC+ ；VCLMP-；VVLMP+ ； |
| 18 | SSOVP / 固態(tài)過(guò)壓保護(hù)器 | ID+ ID-；VCLAMP+, VCLAMP-；VT+、VT-；IH+、IH-；；IBO+ IBO-；VBO+ VBO-；VZ+ VZ- |
| 19 | VARISTOR / 壓變電阻 | ID+； ID-；VC+ ；VC- |
