薄膜測(cè)厚儀產(chǎn)品特點(diǎn)
嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的接觸面積和測(cè)量壓力，同時(shí)支持各種非標(biāo)定制
測(cè)試過(guò)程中測(cè)量頭自動(dòng)升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差
支持自動(dòng)和手動(dòng)兩種測(cè)量模式，方便用戶自由選擇
系統(tǒng)自動(dòng)進(jìn)樣，進(jìn)樣步距、測(cè)量點(diǎn)數(shù)和進(jìn)樣速度等相關(guān)參數(shù)均可由用戶自行設(shè)定
實(shí)時(shí)顯示測(cè)量結(jié)果的大值、小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶進(jìn)行判斷
配置標(biāo)準(zhǔn)量塊用于系統(tǒng)標(biāo)定，保證測(cè)試的精度和數(shù)據(jù)*性
系統(tǒng)支持?jǐn)?shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印等許多實(shí)用功能，方便快捷地獲取測(cè)試結(jié)果
系統(tǒng)采用微電腦控制，搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板，方便用戶進(jìn)行試驗(yàn)操作和數(shù)據(jù)查看
標(biāo)準(zhǔn)的USB接口，便于系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)
測(cè)試原理
CHY-CA薄膜測(cè)厚儀采用機(jī)械接觸式測(cè)量原理，截取一定尺寸的式樣；通過(guò)控制面板按鈕，調(diào)節(jié)測(cè)量頭降落于式樣之上；依靠?jī)蓚€(gè)接觸面產(chǎn)生的壓力和兩接觸面積通過(guò)傳感器測(cè)得的數(shù)值測(cè)量材料的厚度。
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
CHY-CA滿足多項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)：
GB_T_6672-2001塑料薄膜和薄片厚度測(cè)定_機(jī)械測(cè)量法；
ASTM D374固體電絕緣材料厚度標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法；
ASTM D1777-1996(2002) 測(cè)量紡織材料的厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法；
ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 451.3、 GB/T 6547、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817等。
