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重力干法粒度儀工業(yè)用顆粒度儀

參考價(jià)	￥ 6660
訂貨量	≥1 件

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱德國(guó)新帕泰克有限公司
品牌
型號(hào)
所在地蘇州市
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
更新時(shí)間2023/2/1 9:03:19
訪問(wèn)次數(shù)792

產(chǎn)品標(biāo)簽:

重力干法粒度儀性能重力干法粒度儀型號(hào)重力干法粒度儀款式重力干法粒度儀用途供應(yīng)重力干法粒度儀

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

德國(guó)新帕泰克有限公司(Sympatec GmbH) 創(chuàng)建于1984年，是從以粉體研究而*的大學(xué)Technical University of Clausthal (TUC) 中分支出來(lái)的，集研發(fā)、生產(chǎn)和銷售為一體的世界的專業(yè)粒度分析儀制造商。

德國(guó)新帕泰克自2004年進(jìn)入中國(guó)市場(chǎng)，品牌影響力不斷增強(qiáng)，公司規(guī)模日益壯大，不斷為中國(guó)用戶傳遞全新的檢測(cè)理念。公司于2007年設(shè)立德國(guó)新帕泰克蘇州代表處，并在隨后幾年陸續(xù)在北京及廣州設(shè)立辦事處。為了滿足用戶需求，在蘇州及北京均設(shè)立有應(yīng)用實(shí)驗(yàn)室及技術(shù)服務(wù)中心。

德國(guó)新帕泰克秉承”Better Particles with Best Instruments” 的理念，以客戶的應(yīng)用為根本，為客戶做好貼心的技術(shù)指導(dǎo)；并提供讓客戶放心的售后服務(wù)。

新帕泰克技術(shù)成就

首部激光粒度儀制造標(biāo)準(zhǔn)ISO13320主要技術(shù)內(nèi)容的提供者；
*將的干法分散系統(tǒng)RODOS和激光系統(tǒng)HELOS相結(jié)合，得到分散和測(cè)試一體的干法激光粒度儀，被粉體工程界譽(yù)為粒度測(cè)試領(lǐng)域中的里程碑式的創(chuàng)新；
世界上臺(tái)光子交叉相關(guān)光譜（PCCS）納米粒度儀，彌補(bǔ)了PCS原理測(cè)試的不足，直接精確測(cè)試高濃度納米樣品而無(wú)需稀釋；
干法在線激光粒度測(cè)試系統(tǒng)MYTOS/TWISTER，實(shí)現(xiàn)了工業(yè)生產(chǎn)的實(shí)時(shí)在線的代表性取樣、分散、粒度檢測(cè)和實(shí)時(shí)信號(hào)的提供；
高濃度濕法在線測(cè)試系統(tǒng)OPUS系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)原始濃度下對(duì)結(jié)晶反應(yīng)、超細(xì)研磨過(guò)程，以及強(qiáng)酸強(qiáng)堿體系、高濃度高粘度體系等的在線粒度與濃度檢測(cè)；
世界上臺(tái)將干、濕法分散系統(tǒng)和圖像分析系統(tǒng)相結(jié)合的快速動(dòng)態(tài)粒度粒形分析儀QICPIC，能對(duì)大量顆粒進(jìn)行快速的粒度大小和粒形分析……

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分析儀，粒度儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢價(jià)

測(cè)量范圍	170um	加工定制	否
類型	其他

重力干法粒度儀適用于那些不需要太高分散能量的樣品比如晶體、沙粒、小粒等。下落柱可以對(duì)樣品提供均勻的分散效果并控制以保持顆粒在通過(guò)激光束的時(shí)候保持速度一致。

重力干法粒度儀工業(yè)用顆粒度儀產(chǎn)品信息

GRADIS分散系統(tǒng)適用于那些不需要太高分散能量的樣品比如晶體、沙粒、小粒等。下落柱可以對(duì)樣品提供均勻的分散效果并控制以保持顆粒在通過(guò)激光束的時(shí)候保持速度一致。它既可用于激光粒度儀主機(jī)HELOS，又可用于圖像分析儀主機(jī)QICPIC。

重力干法粒度儀測(cè)試原理：

利用光的衍射現(xiàn)象，即大顆粒產(chǎn)生的衍射角小，小顆粒產(chǎn)生的衍射角大，通過(guò)計(jì)算探測(cè)器上收集到的不同衍射圖形的光強(qiáng)分布，來(lái)給出顆粒的粒度大小和粒度分布。

重力干法粒度儀檢測(cè)粒度范圍：

0.5- 8750 微米（可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用范圍配置量程）

測(cè)試結(jié)果精度：

準(zhǔn)確度	σ ± 1 % 與值的平均相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差(x₁₀…x₉₀)
測(cè)試重復(fù)性	σ < 0.3 % 多次取樣重復(fù)性誤差
儀器可比性	σ < 1 % 中位徑的平均相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差 (x₅₀)
	\|Δx₅₀\| < 2.5 % 大相對(duì)偏差