微觀掃描儀的優(yōu)點有:
三種儀器合而為一
系統(tǒng)設(shè)計適用于從平滑到非常粗糙,從漿到紙板的各種表面的灰塵探測
快速,高精度的自動測試
根據(jù)ISO9000追蹤標準進行自動校準
數(shù)字化映像的顯示、存儲和打印
支持其他軟件
微型掃描儀曾用于:
紙 輪轉(zhuǎn)凹版印刷紙 靜電復印紙 高級紙張 卷煙紙
膠版紙 瓦楞介質(zhì) 衛(wèi)生紙 麻紙 紙巾 墊板 手抄紙
硬件說明
連續(xù)狀態(tài)256色灰度CCD成像機與一臺高速的計算機相接。可掃描及分析的平面范圍為12cm2。樣品光源是用于反射測試(灰塵和印刷不均勻性)的圓形漫射熒光燈 (380nm - 740nm),及用于透射樣本(成型)的帶反饋控制的漫射石英鹵燈。反饋控制自動調(diào)整光源強度以適應(yīng)大范圍定量變化。TAPPI/CPPA相等黑色區(qū)域的灰塵定標標準包含在內(nèi)。
塵埃分析
根據(jù)TAPPI方法T563和CPPA標準D.35.P“通過映像分析測量可見塵埃”的規(guī)定,塵埃分析就是獲取相等黑色區(qū)域(EBA)值。這是利用漫射白光和局部探測臨界點消除陰影補償而獲得的,并且是與紙張亮度、勻度和表面粗糙度相對獨立的。測試結(jié)果同時報告塵埃的物理面積(>0.007mm2)和EBA(>0.010mm2)。測試結(jié)果包括:
- 探測到的污點數(shù)
- 平均污點尺寸 (mm2)
- PPM (mm2/m2)
- 計數(shù)不穩(wěn)定性
- 污點尺寸分布直方圖
- 碎片數(shù)/m2
臨界點設(shè)置是自動進行的,且符合TAPPI和CPPA方法。含TAPPI /CPPA/ISO的相關(guān)黑色區(qū)域的塵埃校準標準。
勻度分析
利用漫射透射光分析在不同光密度(OD)條件下的定量從15g/m2衛(wèi)生紙到500g/m2漂白紙板的紙樣,帶紅外過濾的光學系統(tǒng)與CCD傳感器具有同樣的靈敏度。測試結(jié)果包括:
- 云彩花間的密度對比度
- 云彩花比周長
- 基于云彩花尺寸和對比度的勻度指數(shù)
- 可調(diào)云彩花尺寸分布直方圖
- CD方向概觀
印刷均勻性分析
印刷勻性分析采用與勻度分析相同的方式分析密度變化情況,只是光源改為反射光。主要有以下應(yīng)用:
- 印刷斑點
- KN油墨測試
- 石墨摩擦分析
- “透明點”掛面板分析
透射光對立面
透射光對立面探測非暗即亮。暗對立面如不透明體沾染物;亮對立面如針孔和透明點。結(jié)果的報告方式與物理灰塵分析一樣。
選項
激光打印機
TAPPI/British 手抄紙自動旋轉(zhuǎn)架
X-Y支架