X-RAYX射線測厚儀

菲希爾Ficherscoper X-RAY X射線熒光光譜儀

無論是高精度鍍層厚度測量或是**材料成分分析，F(xiàn)ISCHER眾多系列的X射線熒光光譜儀可以為任何應用提供*佳儀器選擇。除了擁有很多的**和磚利之外，F(xiàn)ISCHER-SCOPE X-RAY產品線還具備近30年的經驗，并且仍在不斷的發(fā)展中。

確定細小結構和大型工件上的單一或復合鍍層、RoHS要求的痕量分析、測試珠寶和黃金或在連續(xù)生產線上在線測量，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY儀器*實驗室和生產要求。

儀器智能控制軟件稱為 WinFTM. 。它不僅使操作簡單化，而且為類似軟件在多功能性及高**性方面設立了標準。

菲希爾Ficherscoper X-RAY X射線熒光光譜儀
XUL系列型號的X射線熒光光譜儀，設計緊湊，用于測量鍍層厚度和分析材料。X射線源和探測器位于測量室的下方，樣品可以直接放置在測量臺上輕松定位。

盡管結構緊湊，但是XUL型儀器配置了大體積的測量腔和手動控制的XY工作臺，是測量電鍍件（如:螺絲，螺釘或螺帽，或裝飾鍍層）的理想選擇。另外，電鍍液的金屬含量也可以快速而方便地分析。

菲希爾Ficherscoper X-RAY X射線熒光光譜儀是專為測量細小工件而設計的。它配備了微距焦X射線管、可自動切換的準直器和多種基本濾波器，特別適合于測量微小樣品，如：插針、接插件和線材以及對印制電路板的手動測量。

FISCHERSCOPE® X-RAY XAN®界面友好的XAN型儀器十分適用于生產業(yè)務和研發(fā)領域中的材料分析測試。

專門為黃金珠寶業(yè)設計的XAN型儀器，可用于快速、無損測量產品真?zhèn)危蚀_確定實際的金含量。對于黃金及貴金屬合金的詳盡分析快速而直接。

配備了硅漂移探測器后，XAN250型儀器能分析薄鍍層，復雜合金及粉末、液體及塵埃的成分，這也是它為什么廣受實驗室、測試機構及貴金屬冶煉廠、海關檢驗等機構歡迎的原因。儀器出色的重復精度，可以與灰吹法相媲美。

X-RAYX射線測厚儀