德國Instrument Systems TOP 200 光學(xué)探頭/輻射亮度測量探頭/光譜儀配件
TOP 200 –用于輻射和亮度測量的光學(xué)探頭
TOP 200 光學(xué)探頭基于普里查德式光學(xué)設(shè)計,帶有集成式取景相機。
產(chǎn)品特長:
普里查德式光學(xué)設(shè)計配有傾斜度僅 15o 的孔鏡,可以提供非常圓的清晰圖像點
光纖的靈活連接和獲取可重現(xiàn)讀數(shù)的ZL模式混合器,以及極低的偏振靈敏度
可通過軟件選擇的 6 種測量點大小
具有寬視場的內(nèi)部取景相機
小的測量點:80 μm
測試對象的可選照明
TOP 150 是具有單孔徑的低成本替代產(chǎn)品。
測量應(yīng)用
測得的輻射強度由 TOP 200 通過多模光纖耦合到光譜儀中。Instrument Systems 的ZL模式混合器可確保光纖中的光透射均勻,即使光纖位置改變,也可產(chǎn)生可重現(xiàn)讀數(shù)。
普里查德原則支持在測量過程中觀察視場,并監(jiān)控視場進行準(zhǔn)確定位。取景相機的圖像由 SpecWin Pro 軟件自動導(dǎo)入并與讀數(shù)一起保存。
產(chǎn)品類型
德國Instrument Systems TOP 200 光學(xué)探頭/輻射亮度測量探頭/光譜儀配件
用于輻射和亮度測量的一體化系統(tǒng) DTS140D NVIS 通常包含以下部件: