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意大利HT HT2055大型地網(wǎng)接地電阻測試與跨步電壓測試儀是一款意大利HT公司生產(chǎn)的較新型的接地電阻測試儀，用于執(zhí)行跨步/接觸電壓測量，額定測試電流可高達(dá)50A，可用于高壓變電站的測量。儀器內(nèi)置過濾器，可對噪聲干擾進(jìn)行電壓自行補(bǔ)償。儀器可以用3線法測量接地電阻，也可以用4線法測量接地電阻率。測量準(zhǔn)，操作簡單。意大利HT HT2055大型地網(wǎng)接地電阻測試與跨步電壓測試儀產(chǎn)品簡介：
意大利HT公司生產(chǎn)的HT2055是一款較新的接地電阻測試儀，HT2055由電源供應(yīng)站和儀表組成，用于執(zhí)行跨步/接觸電壓測量的電氣裝置，如高壓變電站（TN系統(tǒng)，變電站），依據(jù)國際標(biāo)準(zhǔn)額定測試電流高達(dá)50A。儀器的兩個組成單元，很初將進(jìn)行時間和電流同步，以執(zhí)行精的計算步驟，并聯(lián)系實(shí)際測試電流測量電站的電壓值。儀器內(nèi)部DSP過濾器，可以對噪聲干擾影響進(jìn)行電壓自行補(bǔ)償。該儀器還允許用3線方法測量大型接地網(wǎng)的接地電阻和4線法測量接地（土壤）電阻率。所有的測試結(jié)果可以保存到內(nèi)部存儲器，并通過軟件下載到PC。
意大利HT HT2055大型地網(wǎng)接地電阻測試與跨步電壓測試儀產(chǎn)品特點(diǎn)：
l 跨步/接觸電壓測量，通過獨(dú)立的單元
l 單元之間的同步
l 測試電流高達(dá)50A
l LCD點(diǎn)陣顯示兩個單元
l 接地電阻測量和接地電阻率測量
l USB和單元和個人電腦之間的通訊的RS-232轉(zhuǎn)換端口
l DSP濾波噪聲干擾補(bǔ)償
l 專用的Windows軟件
意大利HT HT2055大型地網(wǎng)接地電阻測試與跨步電壓測試儀產(chǎn)品參數(shù)：
HT2055技術(shù)規(guī)格 準(zhǔn)確度計算：[% 讀數(shù) +字 * 分辨率] | ||
跨步/接觸電壓 | ||
測量電壓范圍 | 分辨率 | 準(zhǔn)確度 |
0.01 - 19.99mV | 0.01mV | ±(2.0%rdg + 2dgt) |
20.0 - 199.9mV | 0.1mV | |
200 - 1999mV | 1mV | |
2.00 - 19.99V | 0.01V | |
20.0 - 59.9V | 0.1V | |
計算出的電壓范圍 | 分辨率 | 準(zhǔn)確度 |
0.0 - 199.9V | 0.1V | 計算值(*) |
200 - 999V | 1V | |
(*) 階躍/接觸電壓的計算值通過下面公式獲得: US=Umis ?Iflt/Igen; UC=Umis ?Iflt/Igen; 滿電流量程(選擇): 10A - 200kA 輸入阻抗(選擇): 1k?, 1M? 噪聲剔除: DSP 55Hz filtering, 64dB rejection of 50/60Hz noise | ||
產(chǎn)生電流范圍 | 分辨率 | 準(zhǔn)確度 |
0.00 - 9.99A | 0.01A | ±(3.0%rdg + 5dgt) |
10.0 - 99.9A | 0.1A | ±(3.0%rdg + 3dgt) |
產(chǎn)生電流: 5a max 測試電壓: <> 測試頻率: 55Hz | ||
接地電阻測量 | ||
測量范圍 | 分辨率 | 準(zhǔn)確度 |
0.001? - 1.999? | 0.001? | ±(2.0%rdg + 5dgt) |
2.00? - 19.99? | 0.01? | |
20.0? - 99.9? | 0.1? | |
100.0? - 199.9? | ±(5.0%rdg) | |
開路電壓: < 50v=""> 測試電流: <> 測試信號的頻率: 55Hz 輔助地樁電阻的影響: ≤ ±(10%rdg + 10dgt) (Rc, Rp)max (10? + 100R) or 2k? 考慮較小值 輔助地樁電阻自動測量: Yes 噪聲電壓的自動察覺 | ||
接地電阻率測量 | ||
測量范圍 | 分辨率 | 準(zhǔn)確度 |
0.00?m - 9.99?m | 0.01?m | 計算值，參考接地電阻資料功能 |
10.0?m - 99.9?m | 0.1?m | |
100?m - 999?m | 1?m | |
1.00k?m - 9.99k?m | 0.01k?m | |
10.0k?m - 99.9k?m | 0.1k?m | |
測量原理: Wenner method ? ρ = 2*π* distance* R | ||
