TMS-PRO和TMS-D能快速準(zhǔn)確地測(cè)量各類(lèi)手機(jī)及Pad面板的透過(guò)率，可用于同一面板多個(gè)小孔測(cè)量，實(shí)時(shí)顯示單、多點(diǎn)波長(zhǎng)透過(guò)率數(shù)據(jù)及波段平均透過(guò)率數(shù)據(jù)、實(shí)時(shí)顯示半透波長(zhǎng)及透過(guò)率等。
TMS-PRO（單通道） TMS-D（雙通道）
儀器特點(diǎn)：
- 采用大角度采集全穿透式測(cè)量
- 采用數(shù)字視頻對(duì)焦，使微小區(qū)域?qū)崿F(xiàn)精準(zhǔn)測(cè)量
- 實(shí)時(shí)顯示測(cè)量樣品關(guān)注波長(zhǎng)位置的透射率數(shù)據(jù)及半透波長(zhǎng)檢測(cè)，自動(dòng)調(diào)整顯示坐標(biāo)范圍，可對(duì)批量樣品進(jìn)行高效檢測(cè)及譜圖對(duì)比分析
- 可自定義測(cè)量方案，設(shè)置判定標(biāo)準(zhǔn)，自動(dòng)判定“OK”和“NG”，使檢測(cè)更快速，結(jié)果更準(zhǔn)確
- 高性能探測(cè)器，單次測(cè)量小于1秒，重復(fù)性高
- 可對(duì)多孔進(jìn)行快速測(cè)量
- 最小測(cè)量孔徑可達(dá)φ0.3mm
應(yīng)用范圍：
- 手機(jī)面板IR孔、隱藏孔、霧化孔、閃光燈孔透過(guò)率測(cè)量
- 弧形邊IR孔、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板透過(guò)率測(cè)量
- 太陽(yáng)膜、濾光片光學(xué)元件透光測(cè)量
功能特點(diǎn)：
可測(cè)雙孔定位 可調(diào)極小樣品檢測(cè) 樣品平臺(tái)可XY微調(diào)
數(shù)字相機(jī)視頻對(duì)焦
智能化出結(jié)果
智能化和人性化的軟件操作
實(shí)時(shí)顯示測(cè)量樣品波長(zhǎng)位置的透射/反射數(shù)據(jù)，有效測(cè)量批量樣品并確定質(zhì)量檢測(cè)結(jié)果。
質(zhì)量檢驗(yàn)
用戶可以自定義質(zhì)量檢測(cè)項(xiàng)目，實(shí)時(shí)檢測(cè)和判斷任何波長(zhǎng)的數(shù)據(jù)，并顯示OK或NG，使檢測(cè)更快，操作更方便。
技術(shù)參數(shù)：
型號(hào) | TMS-PRO | TMS-D-Ⅰ | TMS-D-Ⅱ | |
|---|---|---|---|---|
| 測(cè)量系統(tǒng) | 全光譜 | 全光譜 | 全光譜 | |
| 檢測(cè)器 | Hamamatsu薄型背照式CCD | Sony線形CCD 陣列 | Hamamatsu薄型背照式CCD | |
| 檢出限 | 0.05% | 0.1% | 0.05% | |
| 光度準(zhǔn)確性 | 0.5% | 0.5% | 0.5% | |
| 光度重復(fù)性 | 0.2%（420~950nm） | 0.5%（420~950nm） | 0.2%（420~950nm） | |
| 波長(zhǎng)檢測(cè)范圍 | 380-1100nm | 380-1000nm | 380-1100nm | |
| 信噪比（全信號(hào)） | 450:1 | 250:1 | 450:1 | |
| 波長(zhǎng)重復(fù)率 | 0.1nm | |||
| 樣品測(cè)試平臺(tái) | X、Y軸可調(diào) | |||
| 光源 | 高功率鹵素光源 | |||
| 光斑直徑 | ＞0.2~1mm（可選） | |||
| 樣品大小 | ≥0.3mm | |||
| 測(cè)量時(shí)間 | ＜0.2s | |||
| 對(duì)焦方式 | 數(shù)字相機(jī)視頻對(duì)焦 | |||
| 物鏡 | 10X | |||
| 軟件 | Qspec Suite V1.0，可顯示單、多點(diǎn)波長(zhǎng)數(shù)據(jù)，可手動(dòng)和自動(dòng)保存數(shù)據(jù)，自動(dòng)統(tǒng)計(jì)所測(cè)產(chǎn)品批號(hào)總數(shù)、良品、不良品的數(shù)量及百分比并以報(bào)表的形式一鍵導(dǎo)出，超差報(bào)警提示，可根據(jù)用戶標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)機(jī)差。 | |||
操作系統(tǒng)/接口 | Windows 7~Windows 10/USB2.0 | |||
