學前兒童發(fā)展評價
的詳細介紹現在國內使用比較多的學齡前兒童發(fā)展評價方法是丹佛智能測試(DDST):
初始由美國Cororado大學醫(yī)學院William K.Frankerburg等通過對美國丹佛地區(qū)O~6歲兒童智能發(fā)育研究,編制出丹佛發(fā)育篩查試驗(Denver developmental screening test,DDST),并于1967年公開發(fā)表。近30年來,DDST在很多國家應用并在十余個國家進行了修訂(本土化),我國亦于70年代末由北京和上海兒童科學工作者進行了修訂,隨后成為兒科和兒童保健工作者篩查兒童發(fā)育遲緩的重要工具之一。北京市兒童保健所已制定北方6市正常兒童再標準化丹佛發(fā)育篩查試驗。
DDST應用范圍:
適應于0~6歲兒童,作為常規(guī)的發(fā)育篩查工具,對臨床上無明顯癥狀而在發(fā)育上可能有問題兒童進行篩查,DDST主要應用于以下幾個方面:
1、對可疑兒童進行初步判定
2、對有高危因素兒童進行發(fā)育監(jiān)測
3、觀察早期醫(yī)治和干預訓練的效果
DDST測試內容:
由四個分測驗組成,即個人與社會行為、精細動作與適應行為、語言和大運動等,共105個項目
測試時間:
DDST測試時間一般在10~30分鐘;
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