斯派克ARCOS型全譜直讀等離子體發(fā)射光譜儀 - 產(chǎn)品詳情
斯派克ARCOS型全譜直讀等離子體發(fā)射光譜儀簡介
具采用的密封充氣紫外光學(xué)系統(tǒng)和OPI水平觀測等離子光學(xué)接口完成消除水平觀測時(shí)尾焰的影響、全譜CCD技術(shù)和多視角等離子體定位等新技術(shù),有高靈敏度、高精度以及波長范圍寬(130nm-770nm) 等特性,在ICP-OES 領(lǐng)域開拓了全新的應(yīng)用,可分析包括ppm級鹵素在內(nèi)的73個(gè)金屬和非金屬元素。
斯派克ARCOS型全譜直讀等離子體發(fā)射光譜儀主要特點(diǎn)
1.一維色散+32個(gè)CCD檢測器設(shè)計(jì),檢測器無需超低溫冷卻,無需氬氣吹掃保護(hù)
2.全波長覆蓋,為130-770nm的波長范圍,可以分析ppm級鹵素3.密閉充氬循環(huán)光路系統(tǒng),檢測190nm以下譜線,無需氣體吹掃
4.3秒實(shí)現(xiàn)真正全譜數(shù)據(jù)采集,分析速度
5.所有氣體流量采用質(zhì)量流量計(jì)計(jì)算機(jī)控制,矩管位置3維步進(jìn)馬達(dá)計(jì)算機(jī)控制自動化程度高
斯派克ARCOS型全譜直讀等離子體發(fā)射光譜儀技術(shù)參數(shù):
光學(xué)系統(tǒng)
焦距:0.75米
光譜范圍:130nm – 770nm
光柵:三光柵
- 3600線/毫米 (130nm – 175nm)
- 3600線/毫米 (175nm – 340nm)
- 1800線/毫米 (340nm – 770nm)
光譜級次:全波長一級光譜
32個(gè)線性CCD連續(xù) 排列在羅蘭圓上
每個(gè)CCD的像素?cái)?shù):3648
分辨率:8.5pm (恒定不變)
光室密閉充氬,無需吹掃(驅(qū)氣)和抽真空
光室恒溫: 15℃ ( 0.1 ℃)
- 開機(jī)即可使用
- 測量130nm – 190nm波段方便快捷
信號檢測與讀出系統(tǒng)
32個(gè)線性陣列CCD
工作溫度:15 ℃ ( 0.1 ℃),無須制冷,
無須吹掃保護(hù)性氣流
超高速數(shù)據(jù)讀取:雙CPU,平行數(shù)據(jù)讀出
*的動態(tài)范圍:108
最短積分時(shí)間:0.1ms
可進(jìn)行瞬時(shí)信號的測量:與LC、HPLC等聯(lián)機(jī)成為真正可能
決無“溢出”現(xiàn)象
長壽命
等 離 子 體
自激式固態(tài)發(fā)生器和電源
頻率:27.12MHz
功率:750 - 1700W
功率穩(wěn)定性:<0.1%
風(fēng)冷
全自動控制,功率連續(xù)可調(diào)
耦合效率高
等離子體觀測方式
1、等離子體水平放置,軸向觀測
可有效提高儀器的靈敏度10倍,尤其對于激發(fā)電位較低的元素,如:Zn、K、Na
的OPI技術(shù)
冷錐冷卻方式:水冷,冷卻效率高
計(jì)算機(jī)全自動控制冷錐與等離子體
的相對位置
氬氣反吹,在保證遠(yuǎn)紫外波段的光
效率前提下,冷錐和光路(包括透
鏡)無污染的可能
2、等離子體垂直放置,徑向觀測
等離子體垂直放置優(yōu)點(diǎn):
不會燒炬管
減少基體干擾
減少進(jìn)樣系統(tǒng)沖洗時(shí)間
實(shí)驗(yàn)成本降低
分析速度快
缺點(diǎn):
對于激發(fā)電位較低的元素,如:Zn、K、Na
等靈敏度不夠
針對不同用戶的使用習(xí)慣和測試需求,可提供
SPECTRO ARCOS SOP(垂直炬管)
SPECTRO ARCOS EOP(水平炬管)
進(jìn)樣系統(tǒng)
四通道蠕動泵
泵速:0 ~70 RPM
連續(xù)可調(diào)
實(shí)時(shí)在線內(nèi)標(biāo)加入
在線稀釋
耐強(qiáng)酸、堿等腐蝕性液體
隨機(jī)附帶大容量、自動報(bào)
警的廢液回收器
軟 件
多語言(包含中文)視窗化操作軟件及手冊
一鍵導(dǎo)航式操作流程,清晰、簡便,易學(xué)、易用
全譜譜圖自動存儲,記錄樣品“指紋”,可進(jìn)行“追憶”分析,無須保留樣品和費(fèi)時(shí)、
費(fèi)力的再次測量
實(shí)時(shí)內(nèi)標(biāo)測量
定性、半定量全譜測試,可鑒別未知樣品,進(jìn)行“盲樣”分析
可對譜圖進(jìn)行疊加、差減,精確消除溶劑、器皿等所引入的空白與污染誤差
內(nèi)置NIST標(biāo)準(zhǔn)譜庫,可自動進(jìn)行譜線干擾識別和校正
智能邏輯校正( ICAL)系統(tǒng),可持續(xù)監(jiān)控儀器的工作狀況并自動校準(zhǔn),
確保儀器在狀態(tài)下運(yùn)行
的智能背景校準(zhǔn)(Smart Background Correction),扣除真實(shí)背景,消除誤
差,分析結(jié)果準(zhǔn)確
扣除背景的方式靈活多樣
同時(shí)、實(shí)時(shí)扣除背景
單點(diǎn)或雙點(diǎn)
背景曲線擬合
的智能背景扣除(Smart Background Correction)
背景扣除真實(shí)可靠、簡單實(shí)用
可在分析完成后更改背景扣除點(diǎn)或背景扣除方式,無須重新分析樣品,減
輕操作人員的工作量