耐高低溫性能老化測(cè)試機(jī)常用于測(cè)試和試驗(yàn)確定電工、電子、電器及其它工業(yè)產(chǎn)品、材料進(jìn)行高低溫交變或恒定溫?zé)嵩囼?yàn)各種樣品在人為的溫度環(huán)境下使用、擺設(shè)、貯存的參數(shù)及性能。適合LED、光電、電器、通訊、電子、儀表、化學(xué)、車輛、塑膠制品、金屬、建材、醫(yī)療、食品、航天等制品檢測(cè)質(zhì)量或研發(fā)之用。
耐高低溫性能老化測(cè)試機(jī)技術(shù)參數(shù):
1.內(nèi)箱尺寸:W40×H50×D40cm;W50×H60×D50cm;W50×H75×D60cm;W60×H85×D80cm;
2.外箱尺寸約:以實(shí)際尺寸為準(zhǔn),或咨詢業(yè)務(wù)員確認(rèn)。
3.溫/濕度范圍:0℃~150℃;-20℃~150℃;-40℃~150℃;-70℃~150℃/20%~98%(溫度可選)
4.升溫速度:常溫?----->150℃約60分鐘(升溫約3℃每分鐘)
5.降溫速度:常溫?----->-70℃約100分鐘(升溫約1℃每分鐘)
6.控制儀器度:解析度: ±0.01℃;溫度波動(dòng)度:±0.5℃;溫度均勻度:±2.0℃;濕度均勻度:±1%RH
7.執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):
GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗(yàn)方法
GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法GB 2423.1-2008 (IEC68-2-1)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-2008 (IEC68-2-2)