產(chǎn)品簡介
HS-T50無接觸厚度TTV電阻率綜合測試系統(tǒng)是一款廣泛應(yīng)用于太陽能電池片制造過程中對表面厚度TTV電阻率無損測量的專業(yè)儀器。該儀器適用于Si,GaAs,InP,Ge等幾乎所有的材料,所有的設(shè)計都符合ASTM(美國材料實驗協(xié)會)和Semi標準,確保與其他工藝儀器的兼容與統(tǒng)一。
產(chǎn)品特點
■ 無接觸無損傷測量
■ 適用的晶圓材料包括Si,GaAs,InP,Ge等幾乎所有的材料
■ 抗干擾強,穩(wěn)定性好
■ 強大的工控機控制和大屏幕顯示
■ 一體化設(shè)計操作更方便,系統(tǒng)穩(wěn)定
■ 為晶圓硅片關(guān)鍵生產(chǎn)工藝提供精確的無接觸測量
技術(shù)指標
■ 測試尺寸:50mm- 300mm.
■ 厚度測試范圍:1000 um,可擴展到1700 um.
■ 測試精度:+/-0.25um
■ 電阻率測試范圍:0.1-50 ohm.cm
■ 測量精度:2%
■ 晶圓硅片類型:單晶或多晶硅
詳情咨詢:
北京合能陽光新能源技術(shù)有限公司
北京市通州區(qū)工業(yè)開發(fā)區(qū)光華路16號
: -104 -608
:肖
:xiaozongyong@henergysolar.com
公司:http://www.HenergySolar.com