InnovateT5型全譜直讀光譜儀采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)計(jì)和制造工藝技術(shù)，應(yīng)用了日本濱松公司CMOS信號(hào)采集元件，每塊CMOS都可以單獨(dú)設(shè)值火花個(gè)數(shù)，與國(guó)際光譜儀技術(shù)同步，采用真空光室設(shè)計(jì)及全數(shù)字激發(fā)光源。這款CMOS光譜儀，既包含了CCD光譜儀的全譜特性，又具備PMT光譜儀對(duì)非金屬元素的低檢出限，整機(jī)設(shè)計(jì)合理，操作簡(jiǎn)單易學(xué)，具有數(shù)據(jù)精確，長(zhǎng)期穩(wěn)定性好等優(yōu)點(diǎn)。

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全譜譜線圖

CMOS全譜分析技術(shù)

 豐富的譜線信息，分析靈敏線更多，保證分析的準(zhǔn)確度；

 基于全譜測(cè)量的數(shù)據(jù)，能夠正確區(qū)分背景和譜線，有效提高測(cè)量精度；

 智能選擇合適的靈敏線，通過(guò)多譜線結(jié)合技術(shù)，實(shí)現(xiàn)低中高含量段的檢測(cè)需求；

 基于全譜測(cè)量數(shù)據(jù)的多峰擬合技術(shù)，有效消除譜線干擾，實(shí)現(xiàn)精確測(cè)量。

                 CMOS線陣傳感器        

實(shí)時(shí)智能漂移校正技術(shù)

 在分析過(guò)程中實(shí)時(shí)進(jìn)行光譜漂移校正，增強(qiáng)儀器穩(wěn)定性；

 減少標(biāo)準(zhǔn)化校正次數(shù)，延長(zhǎng)校正周期；

 自動(dòng)完成儀器校正，操作更加簡(jiǎn)便。

                                                                          譜線漂移校正

的CMOS檢測(cè)技術(shù)優(yōu)于CCD

 CMOS相比CCD具有更高的靈敏度和響應(yīng)速度；