電子產(chǎn)品高低溫試驗(yàn)設(shè)備，電子產(chǎn)品使用的高低溫測(cè)試設(shè)備就選東莞市科文使用設(shè)備有限公司生產(chǎn)的高低溫試驗(yàn)箱。適用于電子產(chǎn)品在靜止時(shí)或通電工作時(shí)進(jìn)行高低溫試驗(yàn)，測(cè)試產(chǎn)品在高溫，低溫，高低溫交變，高低溫循環(huán)，高低溫恒溫等溫度環(huán)境下使用或儲(chǔ)存的可靠性能。KW-GD系列高低溫試驗(yàn)箱是電子產(chǎn)品行業(yè)的可靠性試驗(yàn)設(shè)備，用于新產(chǎn)品研發(fā)，實(shí)驗(yàn)室，品管部。

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高低溫試驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn)：
GJB150.3 高溫試驗(yàn)
GJB150.4 低溫試驗(yàn)
GB11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10589 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2001 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法
GB/T2423.2-2001 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法
GB/T2423.22-2001 溫度變化試驗(yàn)方法
IEC60068-2-1.1990 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法
IEC60068-2-2.1974 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法