三箱式高低溫沖擊試驗(yàn)箱區(qū)分為高溫區(qū)，低溫區(qū)，測(cè)試區(qū)三部分，測(cè)試產(chǎn)品*靜止。采用之蓄熱，蓄冷結(jié)構(gòu)，強(qiáng)制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測(cè)試區(qū)完成冷熱溫度沖擊測(cè)試可獨(dú)立設(shè)定高溫，低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí)，可選擇二箱或三箱之功能并具有高低溫試驗(yàn)箱的功能。
三箱式高低溫沖擊試驗(yàn)箱滿足的試驗(yàn)方法：
GB/T2423.1-1989低溫試驗(yàn)方法；
GB/T2423.2-1989高溫試驗(yàn)方法；
GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)；
GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)；
GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；
GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)。
SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式
SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式
IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化
GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T 2423.22-2002溫度變化
QC/T17-92汽車(chē)零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則
EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估
三箱式高低溫沖擊試驗(yàn)箱用于測(cè)試電器，電子，電工，電子產(chǎn)品，電子元器件，電腦，手機(jī)，電路板，線路板，五金電子，塑膠電子，塑膠制品，塑料，橡膠，電池，電源，LED，LCD，PCB，F(xiàn)PC，LED照明，LED背光源，LED模組，LED顯示器，LED光電，LCD模組，LCD液晶屏，光伏組件，太陽(yáng)能組件，數(shù)碼產(chǎn)品，通訊設(shè)備，，航天，航空，汽車(chē)，汽車(chē)電子等產(chǎn)品及零部件在經(jīng)過(guò)在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在最短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。
