塑膠電子高低溫濕熱試驗箱是各類產(chǎn)品儲存或使用時的環(huán)境溫濕度可靠性測試設(shè)備，用于測試塑膠電子，五金電子，電子電器，電子元器件，手機，電腦，數(shù)碼產(chǎn)品，通訊設(shè)備，家用電器，電路板，線路板，PCB板，F(xiàn)PC，光電，光纖，光伏組件，太陽能組件，汽車電子，汽車配件，汽車導(dǎo)航，，航天航空，塑膠，塑料，化工，涂料，油漆，油墨，印刷，膠粘，粘合劑，五金，建材等產(chǎn)品及材料。塑膠電子高低溫濕熱試驗箱可測試的功能有高溫高濕、高溫低濕、低溫高濕、高溫、低溫、濕熱、高低溫循環(huán)、高低溫恒定、濕熱交變、恒定濕熱等性能。
塑膠電子高低溫濕熱試驗箱滿足標(biāo)準(zhǔn)：
國際電工委員會標(biāo)準(zhǔn),IEC68-2-03_試驗方法Ca_穩(wěn)態(tài)濕熱
國際電工委員會標(biāo)準(zhǔn),IEC68-2-01_試驗方法A_冷
國際電工委員會標(biāo)準(zhǔn),IEC68-2-02_試驗方法B_干熱
中國國家標(biāo)準(zhǔn),GB/T 2423.1-2001 低溫
中國國家標(biāo)準(zhǔn),GB/T 2423.2-2001 高溫
中國國家標(biāo)準(zhǔn),GB/T 2423.3-1993 恒定濕熱試驗方法
中國國家標(biāo)準(zhǔn),GB2423.34-86 溫濕度組合循環(huán)試驗
中國國家標(biāo)準(zhǔn),GB/T2423.4-93方法
中國國家環(huán)境試驗設(shè)備方法,GJB150.9-8 濕熱試驗
美國標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD-810F-507.4 濕度
美國標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD-810F-501.4 高溫
美國標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD-810F-502.4 低溫
美國標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環(huán)試驗
美國標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD810D方法502.2
美國標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD810方法507.2程序3
美國半導(dǎo)體行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JESD22-A101-B-2004 恒定溫濕度試驗
美國半導(dǎo)體行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JESD22-A103-C-2004 高溫儲存試驗
美國半導(dǎo)體行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JESD22-A119-2004 低溫儲存試驗
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JIS C60068-2-3-1987 試驗Ca:濕熱、穩(wěn)態(tài)
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JIS C60068-2-2-1995 試驗B:干熱
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JIS C60068-2-1-1995 試驗A:低溫
