久經(jīng)考驗的技術和可靠性
在過去的四十多年中,美國麥克儀器公司的SediGraph是許多實驗室粒度分析的標準儀器。無論是在惡劣的生產(chǎn)環(huán)境還是在專業(yè)的化驗室,SediGraph憑借其的可靠性得出精確的測量結果。粒徑分布的測量采用沉降法,顆粒通過直接吸收X射線而被測量。根據(jù)Stockes定律,通過測量粒子在液體中的沉降速率,得出粒子粒徑大小,粒徑分析范圍為0.1~300μm。
- 產(chǎn)品應用
- 軟件和數(shù)據(jù)報告
- 應用筆記、文獻和參考書目
- ASTM測試方法
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智能設計特色
SediGraph III Plus 粒度分析儀*的設計確保了測量的重復性和使用的便利性。使得儀器操作更加容易,日常維護更加簡單。并且能夠確保對同一樣品,在任意一臺SediGraph儀器上都能獲得重復性的結果。
? 高精度X光管終身保修(7年)
? 簡化泵系統(tǒng),確??焖俜治龊鸵子诰S護
? 降低噪聲,提供更加安靜的工作環(huán)境
? 維護提醒裝置,根據(jù)總測試量,提示用戶進行定期維護
? 電腦控制混合室溫度,提高測試可重復性
? Windows操作軟件,以太網(wǎng)連接,可進行點擊式選擇菜單,聯(lián)網(wǎng)工作,打印機選擇,剪切和粘貼等操作
? 多功能和交互式報告系統(tǒng),能夠提供多種類型的報告,例如顆粒沉降速度和粒度(以Phi為單位)
多項功能
- 完整的顆粒分析,能夠確保對樣品中的所有顆粒全部進行分析,包括粒徑大于 300μm和小于0.1μm的部分
- 能夠與其他粒徑測得的數(shù)據(jù)相結合,使數(shù)據(jù)報告范圍可擴展至125,000μm (125mm),在地質(zhì)學方面具有很好的應用
- 自下而上地掃描沉降室,能夠準確的獲取沉降顆粒的總數(shù),同時最小化顆粒分離所需的時間
- 全自動操作模式能夠增加分析樣品總數(shù),并且能夠減少人為操作步驟,以降低由人為操作造成的測量誤差
- 控溫分析可確保在整個分析過程中液體的性質(zhì)不發(fā)生任何變化,以獲取精確的分析結果
- 多種分析速度,可根據(jù)實際需要選擇所需的速度和分辨率
| - 實時顯示,能夠監(jiān)控當前分析的累積質(zhì)量圖,以便根據(jù)需求立即修正分析程序
- 統(tǒng)計過程控制(SPC)報告能夠跟蹤過程性能,便于立即對變化做出響應
- 多圖疊加功能,能夠?qū)Ψ治鼋Y果進行可視化比較,例如:與參考樣品或基線疊加,或者將同一分析數(shù)據(jù)的兩種不同類型結果圖疊加
- 數(shù)據(jù)比較圖,能夠提供兩套數(shù)據(jù)組(不同于參考圖)圖形顯示的數(shù)學差或某個數(shù)據(jù)點高于/低于誤差范圍的程度(圖以外)
- 能夠使用同一臺計算機同時控制兩SediGraph,節(jié)約寶貴的實驗室空間,方便數(shù)據(jù)存儲
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