英國泰勒霍普森CCI MP-HS非接觸式光學(xué)輪廓儀詳細介紹:
無論測量的是何種元件,無論對分析速度的要求有多高,我們創(chuàng)新的CCI MP-HS非接觸式光學(xué)輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結(jié)果。 一百萬高速相機與1/10埃垂直分辨率相結(jié)合,無論是測量非常粗糙的表面,還是測量極其光滑的表面,都能獲得令人不可思議的詳細分析。
CCI MP-HS極大地擴展了分析能力,同時又不至于讓分析程序變得更復(fù)雜。 您可以測量各種各樣的元件和表面,不需要進行復(fù)雜的測量模式切換,也不會給中間透鏡的校準(zhǔn)增加額外的負擔(dān)。 通過標(biāo)準(zhǔn)化的方法、程序和,CCI MP-HS可輕松地整合到您的質(zhì)量管理系統(tǒng)中。
- 1048 x 1048像素陣列,視場廣,高分辨率
- X、Y、Z拼接,擴展量程
- RMS重復(fù)<0.2 埃,階躍高度重復(fù)<0.1%
- 整合抗振,優(yōu)化抗噪性能
- 多語言版本的Windows,64位軟件