T2000系列濕法激光粒度分析儀|國產(chǎn)粒度儀
發(fā)布時(shí)間：2020/06/21 點(diǎn)擊量：
一、產(chǎn)品簡介
T2000是我公司主力產(chǎn)品，屬于濕法通用型激光粒度儀。采用Mie式散射原理和匯聚光傅立葉變換光路以及分檔測(cè)試方法，保證了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。全內(nèi)置濕法循環(huán)分散系統(tǒng)，解決大顆粒在管道中沉積的難題，約束擬合數(shù)據(jù)處理技術(shù)與強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理軟件相結(jié)合，保證測(cè)試結(jié)果的真實(shí)可靠。
二、適用范圍：
T2000廣泛應(yīng)用于水泥、陶瓷、藥品、乳液、涂料、染料、顏料、填料、化工產(chǎn)品、催化劑、鉆井泥漿、磨料、潤滑劑、煤粉、泥砂、粉塵、細(xì)胞、細(xì)菌、食品、添加劑、農(nóng)藥、、石墨、感光材料、燃料、墨汁、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土、水煤漿及其他粉狀物料。
三、T2000B和T2000E的比較
- T2000B：
- T2000E ：
四、主要性能特點(diǎn)
*的測(cè)試原理：全量程采用Mie氏散射原理及無約束自由反演技術(shù)，對(duì)分布的顆粒群均可給出真實(shí)的結(jié)果，有效地提高了儀器的實(shí)用性；
新的技術(shù)：采用會(huì)聚光傅里葉變換技術(shù)和分檔測(cè)試（而非分段測(cè)試）技術(shù)，不僅克服了透鏡孔徑對(duì)散射角的限制，并能根據(jù)測(cè)試樣品的粒度分布選擇合適的檔位進(jìn)行密級(jí)測(cè)試，具有的分辨能力和準(zhǔn)確度；
可靠的分散方式：將超聲波分散、機(jī)械攪拌、循環(huán)通道合理的集于儀器內(nèi)部，保證顆粒測(cè)試過程中的均勻分散和分布，有效地避免了外置分散系統(tǒng)因管路長而導(dǎo)致的顆粒分布不均勻、大顆粒沉積等不良現(xiàn)象，從而保證測(cè)試結(jié)果的代表性。對(duì)比重較大的碳化硅、氮化硅、氧化鋁等磨料系列產(chǎn)品測(cè)試具有良好的重復(fù)性。此外，可針對(duì)貴重微量樣品選配10ml微量樣品池，降低其測(cè)試成本。
的軟件功能：根據(jù)磨料行業(yè)的測(cè)試要求，配有針對(duì)磨料行業(yè)的專用軟件，具有如下的功能：
1、 為符合磨料行業(yè)測(cè)試要求，軟件中專門加入了數(shù)據(jù)修正等數(shù)據(jù)處理模塊，能夠?qū)y(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行智能修正，抑制顆粒形狀對(duì)粒度測(cè)試結(jié)果干擾的功能，使多角狀的磨料顆粒測(cè)試結(jié)果與磨料行業(yè)以往采用的電阻法測(cè)試結(jié)果相吻合。測(cè)試結(jié)果符合磨料行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，可替代電阻法測(cè)試儀器
2、 分析模式：包括自由分布、R-R分布和對(duì)數(shù)正態(tài)分布、按目分級(jí)統(tǒng)計(jì)模式等，滿足不同行業(yè)對(duì)被測(cè)樣品粒度統(tǒng)計(jì)方式的不同要求；
3、 統(tǒng)計(jì)方式：體積分布和數(shù)量分布，以滿足不同行業(yè)對(duì)于粒度分布的不同統(tǒng)計(jì)方式；
4、 統(tǒng)計(jì)比較：可針對(duì)多條測(cè)試結(jié)果進(jìn)行統(tǒng)計(jì)比較分析，可明顯對(duì)比不同批次樣品、加工前后樣品以及不同時(shí)間測(cè)試結(jié)果的差異，對(duì)樣品變化程度的控制具有良好的指導(dǎo)意義；
5、 自定義分析：用戶自定義分析參數(shù)，根據(jù)粒徑求百分比、根據(jù)百分比求粒徑或根據(jù)粒徑區(qū)間求百分比，以滿足不同行業(yè)對(duì)粒度測(cè)試的表征方式；
6、 測(cè)試報(bào)告輸出形式：測(cè)試報(bào)告可導(dǎo)出Word、Excel、圖片（Bmp）和文本（Text）等多種形式的文檔，滿足在任何場合下查看測(cè)試報(bào)告以及科研文章中引用測(cè)試結(jié)果；
7、 多元化的語言界面：支持中英文界面，并可擴(kuò)展成任何語言的界面。
測(cè)試準(zhǔn)確度符合JIS日本標(biāo)準(zhǔn)或FEPA歐洲標(biāo)準(zhǔn)。
五、T2000 激光粒度分析儀技術(shù)參數(shù)
| 規(guī)格型號(hào) | T2000B三檔 | T2000E | ||
| 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) | ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008；Q/0100JWN001-2013 | |||
| 測(cè)試范圍 | 0.1-40μm /0.6-120μm /1-300μm | 0.1-300μm | ||
| 探測(cè)器通道數(shù) | 32*3 | 39 | ||
| 準(zhǔn)確性誤差 | <1%（國家標(biāo)準(zhǔn)樣品D50值） | |||
| 重復(fù)性誤差 | <1%（國家標(biāo)準(zhǔn)樣品D50值） | |||
| 激光器參數(shù) | 高性能He-Ne激光器 λ= 632.8nm, p>2mW | |||
| 分散方法 | 超聲 | 頻率：f=40KHz, 功率：p=35W, 時(shí)間：0-10min可調(diào) | ||
| 攪拌 | 轉(zhuǎn)速：0-3000rpm轉(zhuǎn)速可調(diào) | |||
| 循環(huán) | 額定流量：8L/min 額定功率：10W | |||
| 樣品池 | 容量：350mL | |||
| 軟件功能 | 分析模式 | 包括自由分布、R-R分布和對(duì)數(shù)正態(tài)分布、按目分級(jí)統(tǒng)計(jì)模式等，滿足不同行業(yè)對(duì)被測(cè)樣品粒度統(tǒng)計(jì)方式的不同要求 | ||
| 統(tǒng)計(jì)方式 | 體積分布和數(shù)量分布，以滿足不同行業(yè)對(duì)于粒度分布的不同統(tǒng)計(jì)方式 | |||
| 統(tǒng)計(jì)比較 | 可針對(duì)多條測(cè)試結(jié)果進(jìn)行統(tǒng)計(jì)比較分析，可明顯對(duì)比不同批次樣品、加工前后樣品以及不同時(shí)間測(cè)試結(jié)果的差異，對(duì)工業(yè)原料質(zhì)量控制具有很強(qiáng)的實(shí)際意義 | |||
| 自定義分析 | 用戶自定義分析參數(shù)，根據(jù)粒徑求百分比、根據(jù)百分比求粒徑或根據(jù)粒徑區(qū)間求百分比，以滿足不同行業(yè)對(duì)粒度測(cè)試的表征方式 | |||
| 測(cè)試報(bào)告 | 測(cè)試報(bào)告可導(dǎo)出Word、Excel、圖片（Bmp）和文本（Text）等多種形式的文檔，滿足在任何場合下查看測(cè)試報(bào)告以及科研文章中引用測(cè)試結(jié)果 | |||
| 多語言支持 | 中英文語言界面支持，還可根據(jù)用戶要求嵌入其他語言界面。 | |||
| 智能操作模式 | 具有智能操作模式，可以自動(dòng)控制進(jìn)水、分散、測(cè)試等步驟，不但減輕測(cè)試人員的工作量，而且由于無人為因素干擾，測(cè)試結(jié)果的重復(fù)性更好。 | |||
| 操作模式 | 貼膜鍵操作 | |||
| 測(cè)試速度 | <2min/次 | |||
| 體積 | 680mm*350mm*440mm | |||
| 重量 | 30Kg | |||
六、技術(shù)優(yōu)勢(shì)
1.性價(jià)比優(yōu)勢(shì)明顯：價(jià)格低廉、功能完善，能夠滿足企業(yè)的常規(guī)要求。
2.三檔測(cè)試技術(shù)，分辨率提高：樣品分布較窄的用戶可選擇三檔測(cè)試技術(shù)，縮小測(cè)量范圍以獲得更高的測(cè)試分辨率。
3.全內(nèi)置分散系統(tǒng)：全內(nèi)置分散系統(tǒng)，整體化控制協(xié)調(diào)性好，且縮短管路防止大顆粒二次沉淀。
4.無約束自由擬合技術(shù)：運(yùn)用無約束自由擬合技術(shù)，粒度分析不受任何函數(shù)的限制，可真實(shí)反映顆粒的分布狀態(tài)。
