X 射線熒光光譜 (XRF) 能夠?qū)Χ喾N材料進行元素分析，包括固體、液體和疏松粉末。 Zetium 光譜儀專為滿足要求最嚴苛的流程控制和研發(fā)應用需求而設計，其高品質(zhì)的設計和創(chuàng)新功能居于市場地位，可對從鈹?shù)斤训榷喾N元素進行精度范圍從百萬分之一以下到百分之一的分析。
憑借我們多年的豐富經(jīng)驗以及利用具有廣泛分析功能的 X 射線產(chǎn)品組合取得的成功，Zetium 推動材料分析的發(fā)展邁出了革命性的一步。 該平臺包含了 SumXcore 技術，它是 WDXRF、EDXRF 和 XRD 的集成。 這種的功能組合使 Zetium 在多種環(huán)境下?lián)碛袩o二的分析能力、速度和任務靈活性。
Zetium 配備了我們版本的 SuperQ 軟件（包括 Virtual Analyst），可幫助非專家用戶輕松地設置應用程序。 針對特定分析提供了廣泛的附加軟件模塊，例如無標分析、地質(zhì)痕量元素、潤滑油中的基體校正以及薄膜分析。
針對特定行業(yè)提供了 Zetium XRF 光譜儀行業(yè)專用版：水泥、礦物、金屬、石化產(chǎn)品以及聚合物和塑料。 版配置可在任何行業(yè)內(nèi)滿足最嚴苛的要求。 Zetium 平臺的模塊化設計允許通過各種軟件包來實現(xiàn)以任務為導向的性能增強。 馬爾文帕納科提供了一系列集成解決方案；從連接樣品制備裝置的簡單接口，到將多個分析儀器集成到單一容器實驗室中的全自動項目。
增強的分析性能
· 從 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升級可增強靈敏度
· 一系列 X 射線光管陽極材料（銠、鉻、鉬和金）可確保發(fā)揮特定應用性能
· 用于增強靈敏度和加大過渡金屬分析動態(tài)范圍的復合探測器
· 用于擴大的重元素動態(tài)范圍（線性高達 3.5 Mcps）的 HiPer 閃爍探測器特別適合對鋼中的鈮和鉬進行高精度分析
· 可使用 THETA 核依次執(zhí)行游離氧化鈣和 XRF 分析
出色的用戶體驗
· Virtual Analyst 提供簡潔、直觀的軟件
· 整套應用程序設置模塊和軟件解決方案
· 使用 Omnian 執(zhí)行行業(yè)的無標 XRF 分析，對未知材料進行分析，或者在沒有標準的情況下進行分析
· 多元素微小區(qū)域分析
· 可編程的面罩，適合的樣品尺寸為 6 mm 至 37 mm
樣品處理量
· SumXcore 技術 - 利用 ED core（能譜核）將測量時間縮短多達 50%
· 從 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升級可加快分析速度
· Hi-Per 通道可實現(xiàn)對輕元素的同步測量
· 連續(xù)和直接進樣可大大縮短儀器的進樣時間
· 高容量進樣器臺（最多 209 位）可滿足高處理量應用需求
· 進樣器條形碼閱讀器選項可實現(xiàn)快速、的樣品裝載和數(shù)據(jù)錄入
可靠性
· 除塵設備可盡量減少污染，并能夠儀器的正常運行時間
· 用于提高 X 射線管耐用性和耐腐蝕性的 CHI-BLUE X 射線管窗涂層
· 樣品類型識別（固體和液體）
· 條形碼閱讀器可實現(xiàn)無差錯的樣品數(shù)據(jù)錄入
儀器的擁有成本低
· 節(jié)省空間的緊湊型設計
· 小體積空氣鎖設計 - 用于將樣品快速循環(huán)到真空中，或?qū)σ后w分析實現(xiàn)低氦氣消耗
· 便于檢修的服務模塊意味著更高的儀器可維修性和最短的停機時間
· 專用制冷機可從實驗室?guī)ё邿崃?- 避免實驗室空調(diào)基礎設施負荷過重
· 可節(jié)省成本的成套解決方案
