簡(jiǎn)介:
美國(guó)AEP Technology公司主要從事半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備, MEMS檢測(cè)設(shè)備, 光學(xué)檢測(cè)設(shè)備的生產(chǎn)制造,是表面測(cè)量解決方案行業(yè)的供應(yīng)者,專(zhuān)門(mén)致力于材料表面形貌測(cè)量與檢測(cè)。公司始終致力于微觀表面“三維”檢測(cè)技術(shù)和設(shè)備的研發(fā)及推廣,歷經(jīng)近十年努力,已為30多個(gè)國(guó)家提供NanoMap系列三維表面形貌測(cè)量系統(tǒng)。
NanoMap-PS是一款專(zhuān)門(mén)為nm級(jí)薄膜測(cè)量研發(fā)的無(wú)需防震臺(tái)即可測(cè)量的接觸式臺(tái)階儀。
特點(diǎn):
1. 掃描性能穩(wěn)定,無(wú)需防震臺(tái)
2. 超低(0.01mg)接觸力
3. 一體化彩色攝像機(jī)在掃描同時(shí)可直接觀察樣品
4. 無(wú)需安裝一鍵操作
5. 簡(jiǎn)單一鍵操作與用戶(hù)友好的操作界面
測(cè)量范圍:
測(cè)量表面可以覆蓋多種材料表面:金屬材料、陶瓷材料、生物材料、聚合物材料等等,對(duì)于植物表面,生物材料,聚合物表面,光刻膠等“柔軟表面”也可測(cè)量無(wú)須擔(dān)心劃傷或破壞。設(shè)備傳感器精度高,穩(wěn)定性好。熱噪聲是同類(lèi)產(chǎn)品的。垂直分辨率可達(dá)0.1nm 。
應(yīng)用領(lǐng)域:
1. 薄膜厚度
2. 二維表面輪廓
3. 二維粗糙度 ISO24578
4. 劃痕磨損的寬度、深度和面積
5. 量綱分析
6. 微電子表面分析
7. MEMS器件表面分析
8. 太陽(yáng)能電池表面分析
9. 納米材料研究
主要技術(shù)參數(shù)
垂直分辨率: 0.1nm
重復(fù)性: 0.5nm(1Sigema @1um)
垂直范圍: 1000um
掃描范圍: 5000um
地址:北京市海淀區(qū)清河三街 95 號(hào)同源大廈929 室,100085
電話(huà):,
:
:
美國(guó)AEP Technology公司主要從事半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備, MEMS檢測(cè)設(shè)備, 光學(xué)檢測(cè)設(shè)備的生產(chǎn)制造,是表面測(cè)量解決方案行業(yè)的供應(yīng)者,專(zhuān)門(mén)致力于材料表面形貌測(cè)量與檢測(cè)。公司始終致力于微觀表面“三維”檢測(cè)技術(shù)和設(shè)備的研發(fā)及推廣,歷經(jīng)近十年努力,已為30多個(gè)國(guó)家提供NanoMap系列三維表面形貌測(cè)量系統(tǒng)。
NanoMap-PS是一款專(zhuān)門(mén)為nm級(jí)薄膜測(cè)量研發(fā)的無(wú)需防震臺(tái)即可測(cè)量的接觸式臺(tái)階儀。
特點(diǎn):
1. 掃描性能穩(wěn)定,無(wú)需防震臺(tái)
2. 超低(0.01mg)接觸力
3. 一體化彩色攝像機(jī)在掃描同時(shí)可直接觀察樣品
4. 無(wú)需安裝一鍵操作
5. 簡(jiǎn)單一鍵操作與用戶(hù)友好的操作界面
測(cè)量范圍:
測(cè)量表面可以覆蓋多種材料表面:金屬材料、陶瓷材料、生物材料、聚合物材料等等,對(duì)于植物表面,生物材料,聚合物表面,光刻膠等“柔軟表面”也可測(cè)量無(wú)須擔(dān)心劃傷或破壞。設(shè)備傳感器精度高,穩(wěn)定性好。熱噪聲是同類(lèi)產(chǎn)品的。垂直分辨率可達(dá)0.1nm 。
應(yīng)用領(lǐng)域:
1. 薄膜厚度
2. 二維表面輪廓
3. 二維粗糙度 ISO24578
4. 劃痕磨損的寬度、深度和面積
5. 量綱分析
6. 微電子表面分析
7. MEMS器件表面分析
8. 太陽(yáng)能電池表面分析
9. 納米材料研究
主要技術(shù)參數(shù)
垂直分辨率: 0.1nm
重復(fù)性: 0.5nm(1Sigema @1um)
垂直范圍: 1000um
掃描范圍: 5000um
地址:北京市海淀區(qū)清河三街 95 號(hào)同源大廈929 室,100085
電話(huà):,
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