產(chǎn)品概述:
CT200時(shí)代涂層測(cè)厚儀(分體兩用)升級(jí)版在開(kāi)發(fā)過(guò)程中,增強(qiáng)了數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)功能,數(shù)據(jù)存儲(chǔ)采用回環(huán)覆蓋方式,避免了新用戶使用時(shí)出現(xiàn)存儲(chǔ)器滿的異常。
采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法,即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度
CT200時(shí)代涂層測(cè)厚儀(分體兩用)功能特點(diǎn)
●更加方便的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、增加存儲(chǔ)量
●任意界面測(cè)量
●新穎的界面布局
●簡(jiǎn)潔、經(jīng)濟(jì)、實(shí)用
●增加了渦流功能測(cè)厚,實(shí)現(xiàn)一機(jī)兩用
●設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均值(MEAN)、*大值(MAX)、*小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(NO.)
標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV)
●具有存貯功能:可存貯500個(gè)測(cè)量值
CT200時(shí)代涂層測(cè)厚儀(分體兩用)技術(shù)參數(shù):
測(cè)頭類型 | CT200F | CT200N | |
工作原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 | |
測(cè)量范圍 | 0~1500μm | 0~1500μm,其中:銅上鍍鉻(0~40μm) | |
分辨力 | 0.1μm(0~50μm),1微米(>50μm) | ||
測(cè)量誤差 | 3%H+1μm(H為測(cè)量范圍) | ||
示值誤差 | 一點(diǎn)校準(zhǔn)(μm) | ±(3%H+1) | ±(3%H+1) |
測(cè)試條件 | *小曲率半徑(μm) | 凸1.5 | 凸3 |
*小面積的直徑(μm) | Φ7 | Φ5 | |
基體臨界厚度(㎜) | 0.5 | 0.3 | |
工作電壓 | 3*1.5V | ||
外形尺寸 | 155㎜*68㎜*27㎜ | ||
整機(jī)重量 | 230g | ||
標(biāo)準(zhǔn)配置 | 主機(jī)、探頭(F或N)、基體(鐵或鋁)、標(biāo)準(zhǔn)片 |
CT200時(shí)代涂層測(cè)厚儀(分體兩用)標(biāo)準(zhǔn)配置:
主機(jī)、探頭(F或N)、基體(鐵或鋁)、標(biāo)準(zhǔn)片、電池、隨機(jī)文件、儀器箱
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