設(shè)備介紹
日本電子 JXA-8230電子探針顯微鏡分析儀可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器,組合使用WDS和EDS,能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。日本電子新開發(fā)出的EPMA (電子探針)秉承近半個世紀(jì)的EPMA的發(fā)展歷史,JXA-8230具備用戶友好的操作、通過新式簡單易用的PC 用戶界面提供完整范圍的高精度、快速分析,這是JEOL長年來對高可靠性硬件不斷改良的結(jié)果。JXA-8230電子探針是能滿足多種需求的強力分析工具之一。
儀器型號
日本電子 JXA-8230
技術(shù)參數(shù)
- 檢測元素范圍(Be)*1 /B~U, EDS:B~U
- X射線檢測范圍WDS檢測的波長范圍0.087~9.3nm
- EDS EDS檢測的能量范圍20keV
- 加速電壓0~30kV
- 束流電流范圍10-12 ~ 10-5 A
- 束流電流穩(wěn)定度5%/h, ±0.3%/12h(W)
- 二次電子分辨率6nm(W), 5nm(LaB6)*2(W.D. 11mm, 30kV)
- 掃描倍率×40 ~ ×300,000(W. D. 11mm)
案例展示
應(yīng)用范圍
應(yīng)用范圍:1.金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態(tài)成分鑒定。 2.金銀飾品、寶石首飾的鑒別,考古和文物鑒定,以及刑偵鑒定等領(lǐng)域。