一.概述
LWF-200兩用漆膜測(cè)厚儀采用磁性、渦流兩種測(cè)厚方法，可無(wú)損傷地檢測(cè)磁性金屬基體（如：鐵、鋼、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如：鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導(dǎo)電覆層的厚度（如：橡膠、油漆、塑料、陽(yáng)極氧化膜等）。本儀器廣泛地應(yīng)用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專(zhuān)業(yè)的儀器。
二.本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 4956-1985 磁性金屬基體上非磁性覆層厚度的測(cè)量（磁性方法）
GB/T 4957-1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆層厚度的測(cè)量（渦流方法）
JB/T 8393-1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)厚儀
三.特點(diǎn)
便攜設(shè)計(jì)，手掌大小
采用高速的DSP芯片，具有快速的測(cè)量能力
人性化設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)單操作。
在雙用探頭時(shí)自動(dòng)識(shí)別鐵基和非鐵基材質(zhì)，無(wú)需手動(dòng)轉(zhuǎn)換
兩種校準(zhǔn)方式，零點(diǎn)校準(zhǔn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)
寬角度LCD液晶顯示
公制和英制單位轉(zhuǎn)換
具有電源欠電壓提示
操作過(guò)程有蜂鳴聲提示
具有自動(dòng)關(guān)機(jī)功能
四.測(cè)量原理
a)磁性法
當(dāng)測(cè)頭與覆層接觸時(shí)，測(cè)頭與磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆層的存在，使磁路磁阻發(fā)生變化，通過(guò)測(cè)量其變化量，可測(cè)得其覆層的厚度。
b)渦流法
利用高頻交變電流線圈中產(chǎn)生一磁場(chǎng)，當(dāng)測(cè)頭與金屬接觸時(shí)，金屬基體上會(huì)產(chǎn)生渦流，并對(duì)測(cè)頭具有反饋?zhàn)饔?，通過(guò)其反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓽y(cè)出覆層厚度。
五、技術(shù)參數(shù)
1.測(cè)量范圍：0-1200um
2.工作電源：兩節(jié)五號(hào)電池
3.測(cè)量精誤差：零點(diǎn)校準(zhǔn) ±（1.5+3%H）；二點(diǎn)校準(zhǔn)±【（1%～3%H）】H+1.5
4.公英制轉(zhuǎn)換：um/mil轉(zhuǎn)換
5.分辨率：0.1um/1um（100um以下為0.1um）
6.環(huán)境溫度-10-40℃
7.相對(duì)濕度≤85%
8.最小基體10*10mm
9.最小曲率凸5mm;凹5mm
10.基體：0.4mm
11.重量：99克（含電池）
12.尺寸102mm*66mm*24mm
六、出廠清單
1.主機(jī)一臺(tái)
2.標(biāo)準(zhǔn)片 四片
3.基體 兩塊（限兩用測(cè)厚儀）
4.電池2兩顆
5.說(shuō)明書(shū)一份
6.保修卡一張
7.合格證一份
LWF-200兩用漆膜測(cè)厚儀采用磁性、渦流兩種測(cè)厚方法，可無(wú)損傷地檢測(cè)磁性金屬基體（如：鐵、鋼、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如：鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導(dǎo)電覆層的厚度（如：橡膠、油漆、塑料、陽(yáng)極氧化膜等）。本儀器廣泛地應(yīng)用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專(zhuān)業(yè)的儀器。
二.本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 4956-1985 磁性金屬基體上非磁性覆層厚度的測(cè)量（磁性方法）
GB/T 4957-1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆層厚度的測(cè)量（渦流方法）
JB/T 8393-1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)厚儀
三.特點(diǎn)
便攜設(shè)計(jì)，手掌大小
采用高速的DSP芯片，具有快速的測(cè)量能力
人性化設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)單操作。
在雙用探頭時(shí)自動(dòng)識(shí)別鐵基和非鐵基材質(zhì)，無(wú)需手動(dòng)轉(zhuǎn)換
兩種校準(zhǔn)方式，零點(diǎn)校準(zhǔn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)
寬角度LCD液晶顯示
公制和英制單位轉(zhuǎn)換
具有電源欠電壓提示
操作過(guò)程有蜂鳴聲提示
具有自動(dòng)關(guān)機(jī)功能
四.測(cè)量原理
a)磁性法
當(dāng)測(cè)頭與覆層接觸時(shí)，測(cè)頭與磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆層的存在，使磁路磁阻發(fā)生變化，通過(guò)測(cè)量其變化量，可測(cè)得其覆層的厚度。
b)渦流法
利用高頻交變電流線圈中產(chǎn)生一磁場(chǎng)，當(dāng)測(cè)頭與金屬接觸時(shí)，金屬基體上會(huì)產(chǎn)生渦流，并對(duì)測(cè)頭具有反饋?zhàn)饔?，通過(guò)其反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓽y(cè)出覆層厚度。
五、技術(shù)參數(shù)
1.測(cè)量范圍：0-1200um
2.工作電源：兩節(jié)五號(hào)電池
3.測(cè)量精誤差：零點(diǎn)校準(zhǔn) ±（1.5+3%H）；二點(diǎn)校準(zhǔn)±【（1%～3%H）】H+1.5
4.公英制轉(zhuǎn)換：um/mil轉(zhuǎn)換
5.分辨率：0.1um/1um（100um以下為0.1um）
6.環(huán)境溫度-10-40℃
7.相對(duì)濕度≤85%
8.最小基體10*10mm
9.最小曲率凸5mm;凹5mm
10.基體：0.4mm
11.重量：99克（含電池）
12.尺寸102mm*66mm*24mm
六、出廠清單
1.主機(jī)一臺(tái)
2.標(biāo)準(zhǔn)片 四片
3.基體 兩塊（限兩用測(cè)厚儀）
4.電池2兩顆
5.說(shuō)明書(shū)一份
6.保修卡一張
7.合格證一份
