CSI是一家法國科學(xué)設(shè)備制造商，擁有專業(yè)的AFM設(shè)計概念，以及為現(xiàn)有的AFM提供設(shè)計選項(xiàng)。該公司是由一個專家團(tuán)隊成立的，他們在AFM領(lǐng)域工作超過20年。作為一些有制造商歷史背景的，以經(jīng)驗(yàn)創(chuàng)造了Nano-Observer在模擬及數(shù)字電子器件和高級組件之間找到了最的組合。一個高品質(zhì)的研究型AFM同時滿足高級用戶和初學(xué)者的要求。它避免了激光對準(zhǔn)需要預(yù)先定位針尖的系統(tǒng)，針尖/樣品的頂部和側(cè)視圖，結(jié)合垂直的馬達(dá)控制系統(tǒng)，使預(yù)先趨近更加容易，通過光學(xué)視窗和X-Y樣品平移臺相結(jié)合使得樣品定位簡單，給了任何研究型實(shí)驗(yàn)室或工廠提供了負(fù)擔(dān)得起的解決方案。
基本技術(shù)特點(diǎn)
1）控制器規(guī)格
XY掃描范圍 100 μm（±10%），Z軸掃描范圍9μm （±10%），XY驅(qū)動分辨率24位控制-0.06?m
數(shù)據(jù)采樣點(diǎn)高達(dá)4096
2）預(yù)先配置的模式
不需要不需要增加額外的模塊就能實(shí)現(xiàn)所有需要的測量，通過簡單地選擇AFM模式，軟件驅(qū)動和連接到相應(yīng)的電子設(shè)備不會產(chǎn)生
錯誤或損害。通過一個簡單的點(diǎn)擊，你可以在所有的AFM模式之間切，
3）柔性材料電學(xué)測試ResiScope
柔性ResiScope原理是基于間歇接觸，樣品的摩擦禮盒針尖的恒定力提供定量的測量，不損壞精細(xì)樣品的表面。
4）高清KFM模式
除了標(biāo)準(zhǔn)的KFM模式， Nano-Observer還能提供一種高清KFM模式，極大提高了分辨率，并提高了表面電位的測量靈敏度，
5）Nano-Observer環(huán)境控制
設(shè)計提供了環(huán)境控制模塊（氣體，濕度，溫度），為提高電器測量性能或者保護(hù)樣品免受氧化
應(yīng)用
普通樣品/生物樣品表面形貌
多模塊配置測量（PFM/KFM/EAFM/CAFM等）
通過ResiScopeTM模式掃描（超過10個數(shù)量級的電流，電阻）。
