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蔡司 EVO MA鎢燈絲掃描電子顯微鏡

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公司名稱上海禹重實(shí)業(yè)有限公司
品牌
型號(hào)
所在地
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2023/4/3 18:07:47
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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

禹重科技(UZONGLAB)是一家立足華東，以拓展全國(guó)市場(chǎng)為主的進(jìn)口儀器貿(mào)易和技術(shù)咨詢服務(wù)公司，下設(shè)三個(gè)事業(yè)部和一個(gè)中心，即分析儀器事業(yè)部、標(biāo)耗備件事業(yè)部、大客戶項(xiàng)目部、以及中禹聯(lián)重檢測(cè)技術(shù)中心。　　作為T(mén)hermo Science(賽默飛)、ZEISS(蔡司)、 Zwick(茲維克)和INNOVATEST(軼諾)品牌的核心代理商，禹重科技?(UZONGLAB)將*的分析測(cè)試前沿技術(shù)和產(chǎn)品帶給國(guó)內(nèi)客戶，為高校、科研院所、政府機(jī)構(gòu)以及材質(zhì)工業(yè)過(guò)程控制等行業(yè)，提供金屬和非金屬材料的成分分析儀器、表面分析儀器、硬度和力學(xué)設(shè)備以及樣品前處理平臺(tái)等儀器產(chǎn)品，同時(shí)提供標(biāo)準(zhǔn)樣品和小型試驗(yàn)設(shè)備銷(xiāo)售、材料測(cè)試咨詢等綜合服務(wù)。　　從冶金鑄造和功能材料的開(kāi)發(fā)；船舶建造和石化裝備升級(jí)換代；到汽車(chē)零部件和電子電工的可靠性測(cè)試；環(huán)境檢測(cè)和工業(yè)品品質(zhì)的不斷提升，禹重科技?(UZONGLAB)在這些方面都發(fā)揮著實(shí)實(shí)在在的作用。　　我們具備豐富的經(jīng)驗(yàn)，充分了解每個(gè)客戶的核心需求，并致力于提供Z佳的解決方案。為客戶提供更專(zhuān)業(yè)、更安全、更便捷的產(chǎn)品和服務(wù)是我們的*目標(biāo)。

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蔡司 EVO MA鎢燈絲掃描電子顯微鏡將鎢燈絲掃描電鏡的發(fā)展帶入了全新的時(shí)代，超大樣品室為各類(lèi)繁雜的樣品以及繁重的工作提供了輕松的解決方案，自動(dòng)化的5軸樣品臺(tái)和大的X、Y、Z軸跟蹤掃描以及可變壓力的檢測(cè)模式使得EVO MA 15能夠廣泛適用于各類(lèi)樣品的檢測(cè)工作，EVO MA 15作為一款研究級(jí)掃描電鏡能夠?yàn)槟峁㈱*的視覺(jué)圖像和Z廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域。

蔡司 EVO MA鎢燈絲掃描電子顯微鏡產(chǎn)品信息

蔡司 EVO MA鎢燈絲掃描電子顯微鏡將鎢燈絲掃描電鏡的發(fā)展帶入了全新的時(shí)代，超大樣品室為各類(lèi)繁雜的樣品以及繁重的工作提供了輕松的解決方案，自動(dòng)化的5軸樣品臺(tái)和大的X、Y、Z軸跟蹤掃描以及可變壓力的檢測(cè)模式使得EVO MA 15能夠廣泛適用于各類(lèi)樣品的檢測(cè)工作，EVO MA 15作為一款研究級(jí)掃描電鏡能夠?yàn)槟峁﹝ui*的視覺(jué)圖像和zui廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域。
蔡司 EVO MA鎢燈絲掃描電子顯微鏡【技術(shù)參數(shù)】
分辨率：3.0nm@ 30KV(SE and W) 4.0nm@ 30KV(VP with BSD)
加速電壓：0.2—30KV
放大倍數(shù)：5—1000000x
探針電流：0.5PA-5μA
X-射線分析工作距離：8.5mm 35度接收角
壓力范圍：10—400Pa (LS15:環(huán)掃模式10-3000Pa)
工作室：365mm(φ)×275mm(h)
5軸優(yōu)中心自動(dòng)樣品臺(tái)：X=125mm Y=125mm Z=50mm T=-10°- 90°°R=360°
zui大試樣高度：145mm，zui大試樣直徑：250mm
系統(tǒng)控制：基于Windows 7 的SmartSEM操作系統(tǒng)
【主要特點(diǎn)】
能在可變壓力下操作
*X射線和EBSD分析
可移動(dòng)大平臺(tái)
快抽真空
未來(lái)的保證，可升級(jí)在高壓和水蒸氣下成像和分析
高亮度LaB6資源選擇
光線套選擇
掃描電鏡(SEM)廣泛地應(yīng)用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機(jī)械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗(yàn)和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實(shí)時(shí)微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測(cè)量，晶體、晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測(cè)量。