ED400 渦流測厚儀

概述：

ED400型渦流測厚儀是ED300型測厚儀的改進型，儀器性能顯著提高。

儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度，測量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。
儀器適于在生產(chǎn)現(xiàn)場、銷售現(xiàn)場或施工現(xiàn)場對產(chǎn)品進行快速、無損的膜厚檢查， 可用于生產(chǎn)檢驗、驗收檢驗和質(zhì)量監(jiān)督檢驗。
儀器符合國家標準GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流法》。

天星渦流測厚儀自1993年開始生產(chǎn)以來，伴隨著我國鋁加工行業(yè)的成長，其自身也在不斷改進和提高，目前，已生產(chǎn)了ED200型、ED300型和ED400型三代產(chǎn)品， ED400型渦流測厚儀是一代產(chǎn)品，其產(chǎn)品質(zhì)量和測試精度達到國外儀器水平，其耐用性非常突出，超過國內(nèi)外儀器。天星測厚儀以良好的質(zhì)量，及時、優(yōu)質(zhì)、低費用的售后服務得到用戶的廣泛贊譽和認可，天星測厚儀在鋁型材行業(yè)的超過90%，成為該行業(yè)的產(chǎn)品。

儀器特點
ED400型渦流測厚儀與ED300型相比，具有如下特點：

﹡ 量程寬   ED400型渦流測厚儀量程達到0～500μm。

﹡ 精度高   測量精度達到2%。
﹡ 分辨率高   分辨率達到0.1μm。
﹡ 校正簡便   只校正“0”和“50μm”兩點，即可在全量程范圍內(nèi)保證設計精度。
﹡ 基體導電率影響小   基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時，測量誤差不大于1～2μm。
﹡ 可靠性提高   采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件，電路結構優(yōu)化，儀器可靠性提高。
﹡ 穩(wěn)定性提高   采用*的溫度補償技術，測量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)場長期使用。
﹡ 探頭芯壽命長   采用高強度磁芯材料，微調(diào)了探頭設計，探頭芯壽命可大大延長。

技術參數(shù)

測量范圍：   0～500μm
測量精度：   0～50μm：±1μm；
50～500μm：±2%
分 辨 率：   0～50μm：0.1μm；
50～500μm：1μm；
0～500μm：1μm（可選）
使用溫度：   5～45℃
外形尺寸：   150mm×80mm×30mm
重    量：   280g

標準配置

主機
探頭
基體（6063鋁合金）
校正箔片   一套4片（附檢測報告）
儀器箱

可選附件

備用探頭
基體
校正箔片（附檢測報告）