CMI900 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀
儀器介紹
CMI900熒光X射線鍍層測(cè)厚儀,有著非破壞,非接觸,快速無損測(cè)量,多層合金測(cè)量,高生產(chǎn)力,高再現(xiàn)性等優(yōu)點(diǎn)的情況下進(jìn)行表面鍍層厚度的測(cè)量,從質(zhì)量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應(yīng)用。
適用范圍
用于電子元器件,半導(dǎo)體,PCB,F(xiàn)PC,LED支架,汽車零部件,功能性電鍍,裝飾件,連接器,端子,衛(wèi)浴潔具,首飾飾品……多個(gè)行業(yè)表面鍍層厚度的測(cè)量;
測(cè)量鍍層,金屬涂層,薄膜的厚度或液體(鍍液的成分分析)組成。
主要特點(diǎn)
測(cè)量范圍寬,可檢測(cè)元素范圍:Ti22–U92;
可同時(shí)測(cè)定5層/15種元素/共存元素較正;
精度高、穩(wěn)定性好;
強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、處理功能;
NIST認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片;
服務(wù)及支持。