手持X射線熒光光譜儀按照不同的應用領域可分為：有害元素分析儀，合分析儀、土壤分析儀、貴金屬分析儀和礦石分析儀等一系列型，其中手持式能量色散礦石分析儀已廣泛應用于各類地質(zhì)礦樣多元素檢測和分析、礦渣精煉分析及考古研究中。檢測樣品包括從硫至鈾的所有自然礦石、礦渣、巖石、泥土、泥漿等，形態(tài)為固體、液體、粉末等。
手持式光譜儀如何正確使用 手持式光譜儀在使用的時候，對環(huán)境有一定的要求。不要在潮濕的環(huán)境下工作，環(huán)境濕度0-95%之間為好；不能在高溫下操作工作。這樣，避免各類磁場的干擾，儀器分析的時候才能檢測出更高的精度。所以，大家在工作時候要注意環(huán)境適度，很多時候儀器檢測不標準跟環(huán)境有很大程度上的關系。 手持式光譜儀對于操作人員有一定要求。測試樣品前，一定要請儀器廠商人員現(xiàn)場演示，并且對技術人員做操作前的培訓。因為這款儀器是檢測元素，那么一定會要做放樣檢測，所以，技術人員還需要做好防。 對手持式光譜儀操作的技術人員，在使用儀器檢測樣品的時候，先要把儀器前方的圓孔對準需要檢測樣品的點，儀器要貼在上面，在扣動開始檢測的時候，技術人員的手一定不能抖動，否則會影響到檢測的數(shù)據(jù)結(jié)果。 對于檢測的樣品也有要求。被測的物品表面必須保持整潔，才能避免其他元素的干擾。被測物品的表面有油污，或重金屬污染，檢測出來的結(jié)果度沒那么高。 手持式光譜儀的操作看起來很復雜，只需按照技術人員的指示一步步操作，沒你想的那么復雜了。

合金分析儀技術性能：
1. 真正實現(xiàn)在現(xiàn)場進行無損,,準確的檢測,直接顯示元素的百分比含量。 2. 只需將合金分析儀直接接觸待測合金表面，無須等待和花費時間即可現(xiàn)場確定合金等級。 3. 被檢測的樣品的對象可以是合金塊、合金片、合金線、合金渣、合金粉。 4. 不規(guī)則或小型樣品的補償性測試方法能檢測很小或很少的樣品,如直徑為0.04mm的細絲也能立即辨認。 5. 手式可延伸的探頭設計能對管道內(nèi)部、焊縫,等位置進行檢測。 6. 可檢測溫度高達450℃的高溫材料。 7. 可現(xiàn)場在庫中添加,編輯,合號。 8. 快的分析速度,僅需2秒鐘可識別合金元素。 9. 用戶化windowsCE6.0系統(tǒng)驅(qū)動的微電腦顯示系統(tǒng)使所有功能皆可現(xiàn)場完成，用戶化windows CE僅保留有基本的windows與Delta系統(tǒng)有關的性能，使程序更具靈活性。 10. 無需借助電腦，可在現(xiàn)場隨意，查看，放大相關元素的光譜圖。 11. 防塵,防霧,防水：一體機設計，軟膠與塑膠部件凸槽凹槽構造設計，使儀器具有很好的三防性能，可承受惡劣的工作環(huán)境,大霧,下雨,塵土飛揚工裝場地也能正常工作。 12 更高的檢測精度，多次測試的平均值統(tǒng)計功能可有效地提高儀器的檢測精度。 13 超大的圖標顯示，菜單式驅(qū)動，微電腦WINDOWS系統(tǒng)使儀器操作更加簡便。 14. 電磁干擾被屏蔽，即使在靠近手機或雙向無線通信裝置處也能正常工作。

手持式光譜儀的應用非常廣泛，涉及：電力、石化、考古、金屬加工、壓力容器、廢舊物資回收、航空航天、地質(zhì)勘探、礦山測繪、開采、礦石分選、礦產(chǎn)貿(mào)易、金屬冶煉、環(huán)境監(jiān)測、土壤監(jiān)測、玩具、服裝、鞋帽、電子產(chǎn)品等眾多領域。便宜、的手持式拉曼光譜儀正在迅速成為原料藥采購質(zhì)量控制的有力工具。拉曼光譜儀是未知化合物的有力工具，例如檢測高純度化學品、成分驗證和高分子材料的表征。拉曼光譜儀器大受歡迎主要是由于現(xiàn)代儀器所配備的智能決策軟件和譜圖庫，使得它成為理想的分子指紋圖譜分析技術。不同于傳統(tǒng)的分子光譜技術，拉曼光譜儀可用于生產(chǎn)環(huán)境或現(xiàn)場應用，因為它能產(chǎn)生尖銳、特異的譜峰，幾乎不需要樣品前處理或直接與樣品接觸。此外，它還具有特的能力，可以通過透明的包裝材料，如玻璃或塑料，直接測試樣品，并對光譜信息沒有任何干擾。手持式光譜儀正在成為原料藥采購中質(zhì)量控制的有力分析工具。其被廣泛接受的原因是，它用于倉庫化學品的識別，比傳統(tǒng)的實驗室分析技術更具成本效益。

手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術的光譜分析儀器，當能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時,驅(qū)逐一個內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個空穴,使整個原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當較外層的電子躍遷到空穴時,產(chǎn)生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，發(fā)生俄歇效應,亦稱次級光電效應或無效應。所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。當較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原子內(nèi)吸收,而是以光子形式放出,便產(chǎn)生X 射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。因此，射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應的關系。由Moseley定律可知，只要測出熒光X射線的波長,可以知道元素的種類,這是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系,據(jù)此,可以進行元素定量分析。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號來得到待測元素的特息。
手持式光譜儀系統(tǒng)誤差的來源有： (1)標樣和試樣中的含量和化學組成不相同時，可能引起基體線和分析線的強度改變，從而引入誤差。 (2)標樣和試樣的物理性能不相同時，激發(fā)的特征譜線會有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差。 (3)澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結(jié)構不相同時，測出的數(shù)據(jù)會有所差別。 (4)未知元素譜線的重疊干擾。如熔煉過程中加入脫氧劑、除硫磷劑時，混入未知合金元素而引入系統(tǒng)誤差。 (5)要系統(tǒng)誤差，必須嚴格按照標準樣品制備規(guī)定要求。為了檢查系統(tǒng)誤差，需要采用化學分析方法分析多次校對結(jié)果。