型號：AOD3700型​

一、AOD3700型X射線衍射儀（XRD）采用了一維陣列探測器，測試結(jié)果更加精確，大大縮短了測試時間。

《X射線衍射儀》技術(shù)參數(shù)要求：

1 X射線發(fā)生器部分               

1.1額定輸出功率：5kW；

1.2管電壓：10~60kV    1kV/step；

1.3管電流：2~80mA 1mA/step；           

1.4管電壓、管電流穩(wěn)定度：≤0.005%；

1.5有過壓、過流、過功率、無壓、無水、循環(huán)水超溫等保護；

1.6kV、mA升降，光閘開關(guān)由微機控制功能；

1.7 X射線管：波紋陶瓷或金屬陶瓷、Cu靶、焦點1×10mm2（0.4×12mm2）、功率 2.4kW。

★2 測角儀及控制部分

2.1衍射圓半徑：樣品水平θ—θ結(jié)構(gòu)，衍射圓半徑150mm~285mm（連續(xù)可調(diào)）；

2.2掃描方式：連續(xù)、步進、透射、Omg掃描方式，θs、θd臂單動或聯(lián)動；

2.3采用分動控制；采用伺服電機，光學(xué)編碼技術(shù)控制測角儀轉(zhuǎn)動，自動消空程、角度校正；角度定位速度：1500˚/min；

2.4測量方式：常規(guī)衍射或透射方式；

2.5測量范圍： 2θ：-30 ˚—161˚；

2.6角度轉(zhuǎn)動范圍：θs：-15 ˚—200 ˚，θd：-105 ˚—150 ˚

2.5連續(xù)掃描速度：：0.0012—120˚/min；

2.6*小步寬角度：0.0001˚；

2.7 2θ角度重復(fù)精度：0.0001˚；

2.8 全譜圖2θ角線性精度：≤±0.01˚。

★3記錄控制單元（觸摸屏，且采用PLC控制線路）

3.1測角儀及X射線發(fā)生器自動控制；

3.2探測器：陣列探測器；

線性計數(shù)率：1*109cps，無噪音；動態(tài)范圍：（bit）24; 

通道數(shù)：640; 通道寬：（um）50;

能量分辨率（eV）：687±5; 讀出時間(us)： 89；

能譜范圍（KeV）：4-40；冷卻模式:空氣風(fēng)冷;

2Theta覆蓋角度: >4.5度;操作使用環(huán)境:0℃到+50℃.

3.3測量標準樣品si粉，采樣時間0.1秒，步寬角度0.01 ˚時，主峰28.442 ˚的半峰寬優(yōu)于0.075，且主峰分辨率≤85%。

3.4樣品測試速度是傳統(tǒng)探測器的幾十倍以上。

 4 工作站部分：雙核、內(nèi)存≥4G、硬盤≥500G、獨立顯卡、≥22寸LED, A4幅面數(shù)據(jù)輸出設(shè)備。

★5 射線防護及報警裝置

5.1鉛+鉛玻璃防護，具有射線防護門禁開功能，光閘窗口與防護罩連鎖，防護罩外射線計量不大于0.1μSv/h；

5.2防護標準：防護標準達到GBZ115-2002《X射線衍射儀和熒光分析儀衛(wèi)生防護標準》的要求。取得省級或以上環(huán)保部門頒發(fā)的輻射安全許可證。X射線泄漏量≤0.1μSv/h。

6衍射儀控制、數(shù)據(jù)處理軟件

6.1支持Windows7操作系統(tǒng)的控制及應(yīng)用軟件；

6.2自動控制X射線發(fā)生器的管電壓、管電流、光閘及射線管老化訓(xùn)練；

6.3控制測角儀連續(xù)或步進掃描，同時進行衍射數(shù)據(jù)采集；

6.4對衍射數(shù)據(jù)進行常規(guī)處理：自動尋峰、手動尋峰、積分強度、峰高、重心、背景扣除、平滑、峰形放大、譜圖對比。.   

7應(yīng)用軟件部分：物相定性、定量分析、Kα1、α2剝離、全譜圖擬合、選峰擬合、半高寬和晶粒尺寸計算、晶胞測定、二類應(yīng)力計算、衍射線條指標化、多重繪圖、3D繪圖、衍射數(shù)據(jù)校準、背景扣除、無標樣定量分析等功能、全譜圖擬合（WPF）、XRD衍射譜圖模擬。

8整機綜合穩(wěn)定度：≤0.3% 。

更新時間：2021/11/23 15:54:42