青島MC-3000B/S涂層測(cè)厚儀漆膜測(cè)厚儀生產(chǎn)廠家的作用及原理
漆膜測(cè)厚儀又叫油漆膜測(cè)厚儀,漆層測(cè)厚儀,電子涂層測(cè)厚儀等,因?yàn)樘筋^的類型不同,所以采用渦流法和磁性法來(lái)檢測(cè)。在現(xiàn)實(shí)生活中,比如說(shuō)客貨車的鋼結(jié)構(gòu)的腐蝕,很多時(shí)候都是因?yàn)槠釋拥暮穸炔粔?,所以人們就?huì)希望有各種方便靈活的測(cè)厚儀來(lái)檢查涂層的厚度是否達(dá)標(biāo)。漆膜測(cè)厚儀不但在實(shí)驗(yàn)室可以使用,也會(huì)大量出現(xiàn)在工程現(xiàn)場(chǎng)。在電鍍,防腐,航天航空,化工,造船,汽車,輕工,商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。配置不同的探頭,就可以適用于各種不同的場(chǎng)合。目前我國(guó)生產(chǎn)的測(cè)厚儀有兩種,分別是永磁性測(cè)厚儀和濕膜測(cè)厚計(jì)。
青島MC-3000B/S涂層測(cè)厚儀漆膜測(cè)厚儀生產(chǎn)廠家它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。通過(guò)使用不同的測(cè)頭,還可滿足多種測(cè)量的需要。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)*的儀器。本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn): GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量 磁性方法 GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量 渦流方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x JJG 889─95 《磁阻法測(cè)厚儀》 JJG 818─93 《電渦流式測(cè)厚儀》。
功能特點(diǎn):
●采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法,可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆層的厚度導(dǎo)電金屬基體(如:橡膠、油漆、塑料、陽(yáng)極氧化膜等)。
●可使用6 種測(cè)頭(F0.5 ,F1.2,F3,F5,F9,N1.2)
●具有溫度補(bǔ)償功能: 配有科電“鎖相環(huán)”技術(shù)
●具有屏幕翻轉(zhuǎn)功能: 可以手動(dòng)選擇翻轉(zhuǎn)顯示測(cè)量數(shù)據(jù)
●測(cè)量速度:根據(jù)不同的應(yīng)用場(chǎng)合客戶可以選擇單次測(cè)量和連續(xù)測(cè)量?jī)煞N測(cè)量速度
●可采用三種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正
●具有存儲(chǔ)功能:可以存儲(chǔ)超過(guò)1萬(wàn)個(gè)測(cè)量點(diǎn)
●具有刪除功能:可以刪除存儲(chǔ)組中的一個(gè)可疑數(shù)據(jù),也可以刪除所有的存儲(chǔ)數(shù)據(jù),以便進(jìn)行新的測(cè)量
●設(shè)置限界:對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警;并可用直方圖對(duì)一批測(cè)量值進(jìn)行分析
●具有打印功能:可以連接藍(lán)牙打印機(jī),打印測(cè)量數(shù)據(jù)
●具有數(shù)據(jù)連接功能:藍(lán)牙2.0,可以與電腦和打印機(jī)進(jìn)行無(wú)線通信
●具有電源欠壓指示功能
●操作過(guò)程有蜂鳴聲提示
●設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式:手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式
●V型槽:人性的V型槽結(jié)構(gòu)方便測(cè)量各種尺寸管道外表面的涂層
●大平底:的大平底探頭結(jié)構(gòu)使儀器測(cè)量更加穩(wěn)定,重復(fù)性更高
●防滑墊:專業(yè)設(shè)計(jì)的防滑墊配合機(jī)殼背面的防滑紋理使客戶長(zhǎng)時(shí)間操作也不易疲勞,體現(xiàn) 了科電客戶至上的一貫理念
MC-3001全分體式通用型涂層測(cè)厚儀
MC-3001全分體式通用型涂層測(cè)厚儀是在MC-3000B/S系列的基礎(chǔ)上升級(jí)的一款全量程、多功能的分體涂鍍層測(cè)厚儀。它可以配置科電儀器的所有分體探頭,一臺(tái)主機(jī)既可以使用磁性探頭,又可以使用非磁性探頭,也可以選擇內(nèi)防腐探頭等各種定制探頭。用戶根據(jù)需要可以選擇一只或者多只探頭進(jìn)行任意匹配;根據(jù)探頭的型號(hào)不同,對(duì)應(yīng)的測(cè)量范圍,測(cè)量材料也相應(yīng)不同。
MC-3000B/S & MC-3001系列涂鍍層測(cè)厚儀
功能介紹:
測(cè)頭類型 | 可選見(jiàn)探頭附表 | |
測(cè)量模式 | 精簡(jiǎn)模式、監(jiān)控模式、統(tǒng)計(jì)模式、zui小值捕捉 | |
測(cè)量原理 | 磁感應(yīng)和電渦流 | |
測(cè)量范圍 | 探頭決定 | |
探頭連接方式 | MC-3000B | 一體式內(nèi)置探頭(不可更換) |
MC-3000S | 分體式導(dǎo)線連接(不可更換) | |
MC-3001 | 分體式導(dǎo)線連接(任意匹配) | |
使用溫度 | 相對(duì)濕度:≤90% ; 溫度:-10℃~+40℃ | |
溫度補(bǔ)償 | 配有科電“鎖相環(huán)”技術(shù) | |
語(yǔ)言 | 內(nèi)置中文、英文 | |
測(cè)量速度 | 根據(jù)不同的應(yīng)用場(chǎng)合客戶可以選擇單次測(cè)量和連續(xù)測(cè)量?jī)煞N測(cè)量速度 | |
電源 | 兩節(jié)五號(hào)(AA)電池 | |
主機(jī)尺寸 | 150mm(L)*68mm(W)*33mm(H) | |
重量 | 220g(含電池) |
MC-3000B/S & MC-3001涂層測(cè)厚儀探頭型號(hào):
探頭型號(hào) | F0.5 | F1.2 | F3 | F5 | F9 | N1.2 |
測(cè)量原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 | ||||
測(cè)量范圍 | 0-0.5mm | 0-1.25mm | 0-3mm | 0-5mm | 0-9mm | 0-1.25mm |
分辨率(μm) | 0.1 | 0.1 | 0.1 | 10 | 10 | 0.1 |
誤差 | ±(1~3% )H±1或H±2μm注:H為被測(cè)覆層的厚度值 | |||||
顯示精度 | 0~100μm: 0.1μm; 100~999μm: 1μm; 1mm~9mm: 0.01mm | |||||
基體zui小平面直徑 | 6mm | 9mm | 12mm | 20mm | 20mm | 9mm |
zui小曲率半徑(凹) | 5mm | 6mm | 7.5mm | 10mm | 10mm | 6mm |
zui小曲率半徑(凸) | 1.5mm | 1.5mm | 2mm | 5mm | 5mm | 1.5mm |
即使相同的涂層測(cè)厚儀,不同的人或?qū)Σ煌N類、狀態(tài)基材上的相同涂層測(cè)量出來(lái)的數(shù)據(jù)也可能會(huì)存在較大差別,這是因?yàn)闇y(cè)量人員因素、測(cè)量漆膜的基體材質(zhì)、厚度、表面狀況以及測(cè)量位置等造成的。使用涂層測(cè)厚儀,要注意以下幾點(diǎn):
使用前應(yīng)仔細(xì)閱讀儀器使用說(shuō)明書(shū)
不同廠家、不同品牌的儀器在結(jié)構(gòu)、按鍵、校準(zhǔn)等方面各不相同,因此使用前必須先仔細(xì)閱讀儀器的使用說(shuō)明書(shū),避免誤操作造成測(cè)量數(shù)據(jù)的錯(cuò)誤。
注意金屬基體材質(zhì)
不同金屬基體材料的磁性、導(dǎo)電率是不相同的,這都會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果造成影響[9]。采用磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。由于基體金屬的成分及熱處理方法不同,導(dǎo)致其電導(dǎo)率不同,因此應(yīng)使用與被檢測(cè)試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
注意檢測(cè)試件形狀
在實(shí)際生產(chǎn)中,工件的材料厚度、形狀、表面粗糙度等存在差異,這些差異會(huì)對(duì)實(shí)際測(cè)量結(jié)果造成影響。每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度,大于這個(gè)厚度,測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響,如果試件材料厚度小于儀器所要求的臨界厚度,檢測(cè)結(jié)果就會(huì)與實(shí)際厚度有差別。一些儀器對(duì)試件表面形狀的陡變十分敏感,因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量的數(shù)值會(huì)不可靠,實(shí)際測(cè)量時(shí)應(yīng)選擇遠(yuǎn)離邊緣和內(nèi)轉(zhuǎn)角的部位。試件表面不僅存在形狀的陡變,還可能存在不同的曲率,一些儀器的測(cè)量結(jié)果總是隨著曲率半徑的減小明顯地增大。因此,即使在選擇儀器時(shí)考慮了zui小曲率半徑,測(cè)量時(shí)仍應(yīng)盡可能選擇在平面部位進(jìn)行測(cè)量。
以上也是在選擇測(cè)厚儀器時(shí)需要考慮zui小曲率半徑、zui小測(cè)量面積、zui小基體厚度的原因