詳情介紹:
LDE射頻導納物位控制器DE射頻導納物位計RF射頻導納料位計 LDE系列射頻導納式物位控制器是利用高頻技術,由電子線路產生一個小功率射頻信號于探頭上,探頭作為敏感元件,將來自物位介電常數引起的信號變化反饋給電子線路于這些變化包括電容量和電導量的變化,因而電子線路處理的是容抗和阻抗的綜合變化信號,采用相位檢測技術將這種變化檢測出來,進行處理后改變繼電器的輸出狀態(tài)。它是在原電容測量的基礎上改進為射頻導納測量技術,代表了當今物位測量的新水平。可用于測量導電及不導電物體。常用有標準型、重型探頭型。
主要技術參數
電源電壓 AC220VAC±10%50/60Hz;DC24V
環(huán)境溫度 -40℃~60℃(中,低靈敏度設置)-20℃~50℃ (高靈敏度設置)
輸出繼電器 雙刀雙擲(DP/DT),5A(阻性),250VAC
靈敏度設置 1~11PF(可調)
延遲時間 1,7,14秒可選或選擇無延時
校準方法 兩步手動校準
消耗功率 4W
出線口 M20X1.5
防護等級 IP66
主要技術參數
電源電壓 AC220VAC±10%50/60Hz;DC24V
環(huán)境溫度 -40℃~60℃(中,低靈敏度設置)-20℃~50℃ (高靈敏度設置)
輸出繼電器 雙刀雙擲(DP/DT),5A(阻性),250VAC
靈敏度設置 1~11PF(可調)
延遲時間 1,7,14秒可選或選擇無延時
校準方法 兩步手動校準
消耗功率 4W
出線口 M20X1.5
防護等級 IP66