產(chǎn)品類型:能量色散X熒光光譜分析儀
產(chǎn)品名稱:光譜分析儀
產(chǎn)品型號(hào):XAD
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):
XAD是一款全元素上照式熒光光譜儀,可測(cè)量納米級(jí)厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚,可選配自動(dòng)平臺(tái)實(shí)現(xiàn)XYZ軸編程位移,實(shí)現(xiàn)無(wú)人值守多點(diǎn)測(cè)量,測(cè)量軟件置入*的EFP算法及解譜技術(shù),解決了諸多業(yè)界難題。
被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用。
1)搭載微聚焦加強(qiáng)型X射線發(fā)生器和*的光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng),最小測(cè)量面積達(dá)0.03mm2
2)擁有無(wú)損變焦檢測(cè)技術(shù),手動(dòng)變焦功能,可對(duì)各種異形凹槽件進(jìn)行無(wú)損檢測(cè),凹槽深度范圍0-90mm
3)核心EFP算法,可對(duì)多層多元素,包括同種元素在不同層都可快、準(zhǔn)、穩(wěn)的做出數(shù)據(jù)分析(釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB,精準(zhǔn)檢測(cè)層Ni和第三層Ni的厚度)
4)配備高精密微型移動(dòng)滑臺(tái),可實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)位、多樣品的精準(zhǔn)位移和同時(shí)檢測(cè)
5)裝配Si-Pin半導(dǎo)體探測(cè)器,即便測(cè)量0.03mm2以下的樣品,幾秒鐘也可達(dá)到穩(wěn)定性
6)涂鍍層分析范圍:鋰Li(3)- 鈾U(92)
7)成分分析范圍:鋁Al(13)- 鈾U(92)
8)人性化封閉軟件,自動(dòng)判斷故障提示校正及操作步驟,避免誤操作
9)四準(zhǔn)直器可選,最小測(cè)量面積可達(dá)0.03mm2
10)配有微光聚集技術(shù),最近測(cè)距光斑擴(kuò)散度小于10%
儀器配置:
1. 微聚焦加強(qiáng)型X射線管:高穩(wěn)定性X射線發(fā)生器
—鈹窗口,油絕緣,氣冷式,輻射安全電子管屏蔽
—50kV,1mA,高壓和管流設(shè)定為應(yīng)用程序提供更好的性能
—符合DIN ISO 3497、DIN 50987和ASTM B 568射線標(biāo)準(zhǔn),如有特殊要求,也可協(xié)商定制
2. 接收器:Si-Pin半導(dǎo)體探測(cè)器(也可選配大窗口SDD探測(cè)器)
—窗口面積≥25mm2
3. 光路轉(zhuǎn)換器
—φ0.3mm(標(biāo)配),φ0.2mm,φ0.5mm和□0.1*0.3mm多準(zhǔn)直器可選
4. 定制專享高敏感鏡頭
—1/2.7”彩冊(cè)CCD高敏感可變焦鏡頭,全局快門,有效像素:1280*960,光學(xué)18-46X,數(shù)字放大20-200倍
5. 恒壓恒流快門式光閘
—擁有高壓電源緊急自鎖功能,帶給您更安全的防護(hù)
6. 移動(dòng)平臺(tái)
—手動(dòng)高精密XY移動(dòng)滑臺(tái),移動(dòng)范圍100mm*150mm,精度0.01mm,可承重15KG
7. 全新一代高壓電源
—性能穩(wěn)定可靠,高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率
8. 對(duì)流通風(fēng)式過(guò)濾風(fēng)冷
—*的散熱系統(tǒng)配備,儀器即便全天候開(kāi)啟,都可保持恒溫恒效
9. 隨附標(biāo)準(zhǔn)片
—免費(fèi)提供十二元素片、五選二標(biāo)準(zhǔn)片( Ni/Cu 2um、Ni/Fe 5um、Au/XX 0.05um、Ag/XX 0.5um、Cr/XX 0.15um)、其他規(guī)格(選配)
10. 其他配置
—電腦一套、打印機(jī)、附件箱、電鍍液測(cè)量杯(選配)
技術(shù)參數(shù):
1. 成分分析范圍:鋁(Al)- 鈾(U)
2. 成分檢出限:5ppm
3. 涂鍍層分析范圍:鋰(Li)- 鈾(U)
4. 涂鍍層檢出限:0.005μm
5. 最小測(cè)量直徑□0.1*0.3mm(最小測(cè)量面積0.03mm2)
6. 對(duì)焦距離:0-90mm
7. 樣品腔尺寸:530mm*570mm*145mm
8. 儀器尺寸:550mm*760mm*635mm
9. 儀器重量:100KG
10. XY軸工作臺(tái)移動(dòng)范圍:100mm*150mm
11. XY軸工作臺(tái)承重:15KG
12. 多元迭代EFP核心算法(號(hào):2017SR567637)
專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)在Alpha和Fp法的基礎(chǔ)上,計(jì)算樣品中每個(gè)元素的一次熒光、二次熒光、靶材熒光、吸收增強(qiáng)效應(yīng)、散射背景等多元優(yōu)化迭代開(kāi)發(fā)出EFP核心算法,結(jié)合*的光路轉(zhuǎn)換技術(shù)、變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),只需要少量的標(biāo)樣來(lái)校正儀器因子,可測(cè)試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機(jī)物層的厚度及成分含量。
單涂鍍層應(yīng)用:如Ni/Fe、Ag/Cu等
多涂鍍層應(yīng)用:如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等
合金鍍層應(yīng)用:如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等
合金成分應(yīng)用:如NiP/Fe,通過(guò)EFP算法,在計(jì)算鎳磷鍍層厚度的同時(shí),還可精準(zhǔn)分析出鎳磷含量比例。
重復(fù)鍍層應(yīng)用:不同層有相同元素,也可精準(zhǔn)測(cè)量和分析。
如釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB,層Ni和第三層Ni的厚度均可測(cè)量。