近場(chǎng)光譜影像分析系統(tǒng) UniDRON-Nano AFM-NSOM-THz-IR-Raman
• 系統(tǒng)結(jié)合后保留原有AFM之功能
• 可結(jié)合之光譜包含拉曼、紅外光、太赫茲光、熒光與時(shí)間解析熒光光譜
• 可建立正立或倒立以及同時(shí)正倒立顯微鏡
• 雷射照射方式: 穿透、反射以及側(cè)向激發(fā)
• 可同時(shí)進(jìn)行多點(diǎn)探針掃描
系統(tǒng)架設(shè):
使用側(cè)面照明的多探頭無(wú)孔成像(NSOM&THz&IR)
無(wú)錫浩輝者新材料科技有限公司依靠多年材料特性研究的經(jīng)驗(yàn)及對(duì)檢測(cè)設(shè)備及技術(shù)的研發(fā)與應(yīng)用,為客戶提供材料檢測(cè)分析儀器及方法。讓客戶深入了解全面的分析技術(shù),以及其性能限制,為客戶的分析需求選擇適合的分析儀器。與此同時(shí),我們會(huì)幫助輔導(dǎo)客戶完成整個(gè)分析過(guò)程,得到客戶所需要的答案及結(jié)果。也可依顧客需求,提供完整專業(yè)的系統(tǒng)解決方案。目前服務(wù)于各大專院校、研究機(jī)構(gòu)、產(chǎn)業(yè)界研發(fā)單位和具備自主研發(fā)能力的大型企業(yè),期望對(duì)國(guó)內(nèi)外的科研及產(chǎn)業(yè)盡一份心力。