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C SAM超聲波掃描檢測(cè)

參考價(jià)	￥ 500
訂貨量	≥1件

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)（深圳）有限公司
品牌優(yōu)爾鴻信
型號(hào)
所在地成都市
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2024/8/30 12:21:54
訪問次數(shù)412

產(chǎn)品標(biāo)簽:

超聲波掃描分析 C-SAM分析超聲波無損檢測(cè)PCB版檢測(cè)

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公司介紹主營產(chǎn)品

優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)有限公司（富士康華南檢測(cè)中心），成立于1996年，主要從事3C產(chǎn)品類測(cè)試與驗(yàn)證、汽車零部件檢測(cè)，環(huán)境可靠性測(cè)試,材料檢測(cè)、尺寸測(cè)量與驗(yàn)證、有毒有害物質(zhì)檢測(cè)及計(jì)量校準(zhǔn)服務(wù)，并具有第三方公正地位的專業(yè)檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)。
現(xiàn)設(shè)立有十二大功能實(shí)驗(yàn)室，主要檢測(cè)設(shè)備共4300余臺(tái)(套) ，各類專業(yè)實(shí)驗(yàn)室22個(gè)，專業(yè)檢測(cè)技術(shù)及管理人員1600余名，形成了專業(yè)、綜合性檢測(cè)/校準(zhǔn)中心，是專業(yè)、客觀、公正的第三方專業(yè)檢測(cè)服務(wù)機(jī)構(gòu)之一。
2003年得中國合格評(píng)定國家認(rèn)可委員會(huì)實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可證書（CNAS）并按照國際標(biāo)準(zhǔn)ISO/IEC17025：2005《檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力的通用要求》管理和運(yùn)行，2018年取得CMA資質(zhì)。

已完善的實(shí)驗(yàn)室:
環(huán)境可靠性(氣候環(huán)境、機(jī)械環(huán)境、包裝運(yùn)輸、HALT、噪音)；

金屬材料檢測(cè)（清潔度檢測(cè)、成分、金相、力學(xué)性能、端口、鍍層及失效分析）；

塑料檢測(cè)（成分、熱學(xué)性能、力學(xué)性能、物理性能及失效分析）；
電子產(chǎn)品管控物質(zhì)（RoHS、鹵素等）；
尺寸檢測(cè)(尺寸測(cè)量、3D掃描、逆向工程)；
校準(zhǔn)(長(zhǎng)度、質(zhì)量、熱學(xué)、力學(xué)、電量)；
SMT實(shí)驗(yàn)室（紅墨水試驗(yàn)、切片試驗(yàn)、超聲波掃描、離子清潔度等）；
移動(dòng)產(chǎn)品(手機(jī)、PAD等)壽命驗(yàn)證等

展開顯示更多內(nèi)容

清潔度檢測(cè)，環(huán)境可靠性測(cè)試，金屬材料檢測(cè)，尺寸測(cè)量，塑料成分分析，成都檢測(cè)中心，第三方檢測(cè)，汽車零部件檢測(cè)，電子電氣檢測(cè)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢價(jià)

C SAM超聲波掃描檢測(cè)是一種非破壞性檢測(cè)技術(shù)，主要利用聲學(xué)掃描原理來檢測(cè)樣品內(nèi)部的結(jié)構(gòu)和缺陷。掃描聲學(xué)顯微鏡，是一種高頻超聲波顯微鏡，用于觀察和分析材料內(nèi)部的微觀結(jié)構(gòu)。

C SAM超聲波掃描檢測(cè) 產(chǎn)品信息

C-SAM超聲波掃描檢測(cè)是一種非破壞性檢測(cè)技術(shù)，主要利用聲學(xué)掃描原理來檢測(cè)樣品內(nèi)部的結(jié)構(gòu)和缺陷。掃描聲學(xué)顯微鏡，是一種高頻超聲波顯微鏡，用于觀察和分析材料內(nèi)部的微觀結(jié)構(gòu)。

C-SAM超聲波掃描檢測(cè)的工作原理是，通過發(fā)射高頻超聲波傳遞到樣品內(nèi)部，當(dāng)聲波遇到與周圍材質(zhì)不同的物質(zhì)時(shí)，會(huì)發(fā)生反射、散射、吸收、阻擋等現(xiàn)象。返回的聲波（回聲）被接收并處理，用于生成內(nèi)部結(jié)構(gòu)的圖像。

C-SAM超聲波掃描檢測(cè)是利用超聲波脈沖探測(cè)樣品內(nèi)部空隙等缺陷的儀器，主要用于觀察組件內(nèi)部的芯片粘接失效、分層、裂紋、夾雜物、空洞等，是一項(xiàng)非破壞性的檢測(cè)組件的完整性，內(nèi)部結(jié)構(gòu)和材料的內(nèi)部情況的測(cè)試。作為無損檢測(cè)分析中的一種，它可以實(shí)現(xiàn)在不破壞物料電氣能和保持結(jié)構(gòu)完整性的前提下對(duì)物料進(jìn)行檢測(cè)，被廣泛的應(yīng)用在物料檢測(cè)（IQC）、失效分析（FA）、質(zhì)量控制(QC)、質(zhì)量保證及可靠性(QA/REL)、研發(fā)(R&D)等領(lǐng)域。

掃描模式

?傳輸時(shí)間測(cè)量模式(A-Scan)

?表面及橫向截面掃描模式(C-Scan)

?縱向截面成像模式(B-Scan)

?透射掃描(T-Scan,限15MHz/30MHz探頭)

C-SAM超聲波掃描是一種重要的無損檢測(cè)技術(shù)，它可以快速、準(zhǔn)確地檢測(cè)樣品內(nèi)部的結(jié)構(gòu)和缺陷，為物料檢測(cè)、失效分析、質(zhì)量控制等領(lǐng)域提供了有力的支持。

關(guān)鍵詞：芯片顯微鏡