西安明克斯為您提供EVO MA 25/LS 25鎢燈絲掃描電子顯微鏡,歡迎選購。
一、EVO MA 25/LS 25鎢燈絲掃描電子顯微鏡產(chǎn)品描述:
掃描電鏡(SEM)廣泛地應用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機械加工)和非金屬材料(化學、化工、石油、地質(zhì)礦物學、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗和研究。在材料科學研究、金屬材料、陶瓷材料、半導體材料、化學材料等領域進行材料的微觀形貌、組織、成分分析,各種材料的形貌組織觀察,材料斷口分析和失效分析,材料實時微區(qū)成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面掃描和線掃描分布測量,晶體、晶粒的相鑒定,晶粒尺寸、形狀分析,晶體、晶粒取向測量。
二、EVO MA 25/LS 25鎢燈絲掃描電子顯微鏡主要優(yōu)點:
主要特點:
的樣品高度可達210mm ;樣品重量5Kg ;的樣品直徑300mm ;能在可變壓力下操作 ;高亮度LaB6資源選擇 ;光線套選擇
技術優(yōu)勢:
在z軸上可機動化的移動50mm并且在X和Y軸上可移動130mm ;通用圖像處理 ;用X射線分析改進了LaB6成像質(zhì)量 ;支持兩個空間的范圍
三、EVO MA 25/LS 25鎢燈絲掃描電子顯微鏡技術參數(shù):
分辨率:2.0nm@30KV(SE with Lab6 option) 3.0nm@30KV(SE and W) 4.5nm@30KV(VP with BSD)
加速電壓:0.2—30KV
放大倍數(shù):5—1000000x
視野范圍:6mm
X-射線參數(shù):8.5mm WD,35度接收角
壓力范圍:10—400Pa (LS25-3000Pa)
工作室:420mm(φ)×330mm(h)
5軸試樣載物臺:X=130mm Y=130mm Z=50mm T=0-90°R=360°
試樣高度:210mm,試樣直徑:300mm
系統(tǒng)控制:基于Windows XP 的SmartSEM