JVL系列光學(xué)影像測量儀
能高效地檢測各種形狀復(fù)雜工件的輪廓和表面形狀尺寸、角度及位置,特別是精密零部件的微觀檢測與質(zhì)量控制。本產(chǎn)品適用于產(chǎn)品開發(fā)、逆向工程、品質(zhì)檢測等領(lǐng)域,如鐘表零件、電子接插件、五金沖壓件、彈簧、線路板等。
JVL系列光學(xué)影像測量儀 特點(diǎn):
OVM Lite簡易版影像測量軟件,易學(xué)易用;
高硬度、高精密、不易變形的花崗石底座及立柱,穩(wěn)定、耐用;
底光和表面光采用可調(diào)式冷光源(LED),性能穩(wěn)定,方便操作;
測量過程中可連續(xù)變倍,使操作更快捷;
X、Y軸均采用滑塊和導(dǎo)軌結(jié)構(gòu),減小測量誤差,保證測量精度;
具備圖文報(bào)表輸出功能,可以輕松地得到檢測結(jié)果。
JVL系列光學(xué)影像測量儀 技術(shù)參數(shù):
型號(hào) | JVL2010 | JVL3020 |
量測行程(X/Y) (mm) | 200×100×100 | 300×200×200 |
全機(jī)尺寸(mm) | 1000×650×1650 | |
機(jī)臺(tái)承重kg | 30 | |
操作方式 | 手動(dòng)(可切換快速移動(dòng) | |
放大倍率 | 光學(xué)放大:0.7~4.5×;影像放大:28×~180× | |
電源要求 | 110V—220V±10% 50/60HZ | |
光學(xué)尺解析度 | 0.001mm | |
線性精度(X/Y) | (3+L/200)μm | |
量測精度 | X和Y軸:±2μm | |
重復(fù)性 | ±2μm | |
CCD | 進(jìn)口彩色(41萬象素SONY sensor) | |
測量軟件 | OVM Lite | |
適合環(huán)境 | 溫度:20~25℃ 濕度:50%~60% | |
電腦配置 | 高性能主機(jī)+17寸純平彩顯 |
使用鼠標(biāo)點(diǎn)取工件影像完成自動(dòng)捕捉功能,不用移動(dòng)機(jī)臺(tái)就可以完成測量,操作效率遠(yuǎn)超投影儀。
基本幾何測量:點(diǎn)、線、圓、弧、角度;
組合元素測量:點(diǎn)、線、圓、弧、組合測量,圓心距、圓切線、兩線中線、中心點(diǎn)、垂直距離、角平分線、兩線交點(diǎn);
形位誤差評(píng)定:
同心度、真圓度、直線度、位置度、傾斜度;
坐標(biāo)系設(shè)定:
有原始座標(biāo)、座標(biāo)平移、座標(biāo)旋轉(zhuǎn)、三點(diǎn)軸,針對(duì)物件的圖形進(jìn)行擺正,或是重設(shè)新的座標(biāo)系都很方便。
測量數(shù)據(jù)可輸入通用的辦公軟件進(jìn)行統(tǒng)計(jì),如WORD、EXCEL格式,并制作成檢驗(yàn)報(bào)表打印出來。
JVL系列光學(xué)影像測量儀注意事項(xiàng):