深圳谷易電子生產(chǎn)的筆記本DDR4-96球內(nèi)存顆粒測(cè)試治具—ddr測(cè)試架的產(chǎn)品簡(jiǎn)介、性能、特點(diǎn)、規(guī)格、應(yīng)用、生產(chǎn)廠家介紹
適用DDR4內(nèi)存顆粒測(cè)試環(huán)境:老化、測(cè)試、燒錄
DDR4-96ball內(nèi)存顆粒測(cè)試治具產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
內(nèi)存顆粒芯片測(cè)試頻率:3000Mhz
內(nèi)存顆粒芯片測(cè)試溫度:-45°~+155°
DDR內(nèi)存顆粒測(cè)試治具結(jié)構(gòu):翻蓋式,一拖四工位
DDR內(nèi)存顆粒測(cè)試治具材料:peek