服務(wù)內(nèi)容
試驗類型 | 試驗項目 | 標(biāo)準(zhǔn) |
AEC-Q100全套項目 | A組(加速環(huán)境應(yīng)力測試)、B組(加速壽命模擬測試)、C組(封裝組合完整性測試)、E組(電氣特性確認(rèn)測試)、F組(缺陷篩選測試)、G組(腔體封裝完整性測試) | AEC-Q100-001~012 |
AEC-Q001~005 | ||
JESD22-A系列 | ||
JESD22-B系列 | ||
MIL-STD883 |
服務(wù)范圍
汽車半導(dǎo)體檢測及認(rèn)證,零部件材料測試服務(wù)范圍:集成電路IC、半導(dǎo)體分立器件、光器件、MEMS器件、MCM模組、阻容感、晶振等無源電子元件
檢測標(biāo)準(zhǔn)
AEC - Q100:適用于各類集成電路芯片
AEC-Q101: 適用于BJT、MOSFET、IGBT、Diodes、Rectifier、Zeners、PIN等分立器件
AEC-Q102: 適用于LEDs、Optocoupler、Photodiodes等光器件
AEC-Q103: 適用于壓力傳感器、麥克風(fēng)等MEMS器件
AEC-Q104: 適用于各類多芯片組件MCM
AEC-Q200: 適用于各類電容器、電阻器、電感器、變壓器、阻容網(wǎng)絡(luò)、保險絲等元件
檢測項目
試驗類型 | 試驗項目 |
參數(shù)測試類 | 功能驗證、電性能參數(shù)、光參數(shù)、熱阻、物理尺寸、雪崩耐量、短路可靠性等 |
環(huán)境應(yīng)力試驗類 | 高溫工作、高溫反偏、高溫柵偏壓、溫度循環(huán)、高溫存貯、低溫存貯、高壓蒸煮、HAST、高溫高濕反偏、高溫高濕工作、低溫工作、脈沖工作、間歇工作壽命、功率溫度循環(huán)、恒加速、振動、沖擊、跌落、粗細檢漏、氣密性、鹽霧、凝露、硫化氫氣體腐蝕、混合氣體腐蝕等 |
工藝質(zhì)量評價 | DPA、端子強度、耐溶劑試驗、耐焊接熱、可焊性、剪切力、無鉛測試、可燃性、阻燃性、板彎曲、射束負載等 |
ESD | HBM、CDM、LU |
資質(zhì)認(rèn)可
全國超過60家主機廠的認(rèn)可
測試周期
汽車半導(dǎo)體檢測及認(rèn)證,零部件材料測試周期:3個月~6個月
服務(wù)背景
AEC-Q作為國際通用的車規(guī)級電子元器件測試規(guī)范,成為車用元器件質(zhì)量與可靠性的標(biāo)志。電子元器件AEC-Q認(rèn)證測試,對提升產(chǎn)品競爭力,并快速進入汽車供應(yīng)鏈具有重要作用。
我們的優(yōu)勢
廣電計量是目前承接AEC-Q認(rèn)證服務(wù)最多的機構(gòu)之一,擁有豐富的項目經(jīng)驗