描述

薄膜測試系統(tǒng)提供完整的一套膜厚測試系統(tǒng)，可以對單層或多層的5nm-200um的快速測試。這套系統(tǒng)包含便攜式光纖光譜儀，反射式探針和光源。通過樣品正面反射的正弦條紋圖得到反射和膜厚的光學(xué)特性，多種可選擇模式滿足不同的膜厚和光學(xué)需求。

ThinFilmCompanion系統(tǒng)特性

實(shí)時光譜捕捉和儀器控制（反射和透射測試）

內(nèi)置大量材料數(shù)據(jù)

支持多層，單層，粗，厚膜和薄膜結(jié)構(gòu)測試

新材料數(shù)據(jù)可以輕松添加

實(shí)際測試和文件導(dǎo)入

支持復(fù)合物材料測試

TF軟件

采用用戶友好界面軟件可以快速測試膜厚和光學(xué)常數(shù)（n和k值），是復(fù)雜的測試變得簡單化。這個軟件內(nèi)部包含大量 的材料數(shù)據(jù)資料，使得的測試范圍更廣，多層膜，單層膜，粗糙的，薄膜，厚膜等都可以測試，并且新材料的數(shù)據(jù)也可以隨時導(dǎo)入到軟件中。

    主要測試過程包含兩部分：數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)分析。TF系統(tǒng)定義了所有測試過程，并且向用戶開放，同時用戶也可以此 基礎(chǔ)來存儲數(shù)據(jù)和后續(xù)開發(fā)。