◆ 產(chǎn)品名稱:CCD光電性能測試系統(tǒng)
◆ 產(chǎn)品應(yīng)用:主要用于線、面陣CCD光電相應(yīng)性能測試。
◆ 產(chǎn)品介紹:本系統(tǒng)能夠解決空間光學(xué)遙感器研制中光電成像器件選型、采取抗輻射加固設(shè)計(jì)及輻射校正設(shè)計(jì)及為光電成像
器件受輻照后性能變化的機(jī)理研究提供檢測手段等諸多科學(xué)問題;同時(shí)能夠在業(yè)界對光電成像器件抗輻射性能評價(jià)
的標(biāo)準(zhǔn)化和規(guī)范化起到積極推進(jìn)作用。
◆ 產(chǎn)品主要測試功能:
1) 飽和輸出電壓(SV)
2) 飽和曝光量(SE);(A光源)
3) 光輻射響應(yīng)度(燈光照明下的R);輻射照度響應(yīng)度(A光源)
4) 相對光譜響應(yīng)度RS;
5) 響應(yīng)度均勻性(PRNU);
6) 響應(yīng)度非線性度;
7) 電荷轉(zhuǎn)移效率(CTE);
8) 光譜和白光傳遞函數(shù)(MTF);
9) 暗信號(hào)(DS);
10) 暗噪聲(VNOISE);
11) 噪聲等效曝光量(NEE);
12) 動(dòng)態(tài)范圍(DR);
13) 非線性度(NL);
14) 固態(tài)圖片噪聲(FPN)。
◆ 產(chǎn)品主要技術(shù)指標(biāo):
★ 工作光譜波段:380nm~1100nm;
★ 可測量CCD尺寸: 100mm×100mm;
★ 光源均勻性:優(yōu)于1%;
★ 光源穩(wěn)定性:優(yōu)于0.5%/h;
★ 光譜分辨率:<2nm;
★ A/D量化等級:14bit;
★ 動(dòng)態(tài)范圍:80dB;
★ 測量值不確定度:5%;
★ 重復(fù)性誤差:2%。