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3D白光干涉儀掃描

參考價(jià)	￥ 100
訂貨量	≥1件

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)（深圳）有限公司
品牌優(yōu)爾鴻信
型號(hào)
所在地成都市
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2024/9/6 14:37:19
訪問次數(shù)170

產(chǎn)品標(biāo)簽:

3D微觀形貌掃描白光干涉儀測(cè)試表面粗糙度檢測(cè)透明膜檢測(cè)

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公司介紹主營產(chǎn)品

優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)有限公司（富士康華南檢測(cè)中心），成立于1996年，主要從事3C產(chǎn)品類測(cè)試與驗(yàn)證、汽車零部件檢測(cè)，環(huán)境可靠性測(cè)試,材料檢測(cè)、尺寸測(cè)量與驗(yàn)證、有毒有害物質(zhì)檢測(cè)及計(jì)量校準(zhǔn)服務(wù)，并具有第三方公正地位的專業(yè)檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)。
現(xiàn)設(shè)立有十二大功能實(shí)驗(yàn)室，主要檢測(cè)設(shè)備共4300余臺(tái)(套) ，各類專業(yè)實(shí)驗(yàn)室22個(gè)，專業(yè)檢測(cè)技術(shù)及管理人員1600余名，形成了專業(yè)、綜合性檢測(cè)/校準(zhǔn)中心，是專業(yè)、客觀、公正的第三方專業(yè)檢測(cè)服務(wù)機(jī)構(gòu)之一。
2003年得中國合格評(píng)定國家認(rèn)可委員會(huì)實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可證書（CNAS）并按照國際標(biāo)準(zhǔn)ISO/IEC17025：2005《檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力的通用要求》管理和運(yùn)行，2018年取得CMA資質(zhì)。

已完善的實(shí)驗(yàn)室:
環(huán)境可靠性(氣候環(huán)境、機(jī)械環(huán)境、包裝運(yùn)輸、HALT、噪音)；

金屬材料檢測(cè)（清潔度檢測(cè)、成分、金相、力學(xué)性能、端口、鍍層及失效分析）；

塑料檢測(cè)（成分、熱學(xué)性能、力學(xué)性能、物理性能及失效分析）；
電子產(chǎn)品管控物質(zhì)（RoHS、鹵素等）；
尺寸檢測(cè)(尺寸測(cè)量、3D掃描、逆向工程)；
校準(zhǔn)(長度、質(zhì)量、熱學(xué)、力學(xué)、電量)；
SMT實(shí)驗(yàn)室（紅墨水試驗(yàn)、切片試驗(yàn)、超聲波掃描、離子清潔度等）；
移動(dòng)產(chǎn)品(手機(jī)、PAD等)壽命驗(yàn)證等

展開顯示更多內(nèi)容

清潔度檢測(cè)，環(huán)境可靠性測(cè)試，金屬材料檢測(cè)，尺寸測(cè)量，塑料成分分析，成都檢測(cè)中心，第三方檢測(cè)，汽車零部件檢測(cè)，電子電氣檢測(cè)

產(chǎn)品簡介在線詢價(jià)

檢測(cè)周期	3工作日

3D白光干涉儀掃描主要基于光學(xué)干涉技術(shù)，通過測(cè)量光波在樣品表面和參考鏡表面反射后的光程差，來解析出樣品表面的三維形貌信息?？梢詫?shí)現(xiàn)對(duì)納米級(jí)尺寸的精確測(cè)量。

3D白光干涉儀掃描產(chǎn)品信息

優(yōu)爾鴻信尺寸檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室擁有一大批高精度尺寸量測(cè)掃描設(shè)備及量測(cè)工程師，如三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)、自主研發(fā)的影響掃系統(tǒng)、ATOS掃描設(shè)備、3D干涉儀、探針掃描儀等，可為客戶提供專業(yè)的尺寸量測(cè)、量測(cè)程序開發(fā)、量測(cè)系統(tǒng)能力評(píng)估、3D掃描、逆向工程及微觀表面測(cè)量等服務(wù)。

3D白光干涉儀主要基于光學(xué)干涉技術(shù)，通過測(cè)量光波在樣品表面和參考鏡表面反射后的光程差，來解析出樣品表面的三維形貌信息?？梢詫?shí)現(xiàn)對(duì)納米級(jí)尺寸的精確測(cè)量。

白光干涉儀的特點(diǎn)：

高精度測(cè)量：白光干涉儀利用白光作為光源，通過光譜分析技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)對(duì)納米級(jí)高度變化的精確測(cè)量。

非接觸式測(cè)量：由于測(cè)量過程中無需接觸樣品表面，因此不會(huì)對(duì)樣品造成任何損傷，特別適用于對(duì)精密器件和易損材料的測(cè)量。

快速成像與分析：現(xiàn)代白光干涉儀通常配備有高速CCD相機(jī)和先進(jìn)的圖像處理算法，能夠在幾秒鐘內(nèi)完成成像并自動(dòng)分析結(jié)果，大大提高了測(cè)試效率。

白干涉儀的性能：

光學(xué)干涉原理,垂直分辯率高達(dá)0.1nm

量測(cè)精度: 1%

重復(fù)性精度:

RMS重復(fù)性(EX Mode): 1nm

RMS重復(fù)性(Phase Mode): 0.05nm

垂直掃描范圍: 1nm～5mm