X射線熒光鍍層測厚儀,Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,同時(shí)可對電鍍液進(jìn)行分析,不單性能,而且價(jià)錢*.只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測量結(jié)果,,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動(dòng)XYZ樣品臺,鐳射自動(dòng)對焦系統(tǒng),十字線自動(dòng)調(diào)整.超大/開放式的樣品臺,可測量較大的產(chǎn)品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的*.可測量各類金屬層、合金層厚度等??蓽y元素范圍:鈦(Ti) – 鈾(U)可測量厚度范圍:原子序 22-25,0.1-0.8μm 26-40,0.05-35μm 43-52,0.1-100μm 72-82,0.05-5μm X-射線管:油冷,超微細(xì)對焦
高壓:0-50KV(程控)準(zhǔn)直器:固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm
自動(dòng)種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm電腦系統(tǒng):IBM相容,17”顯示器綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標(biāo)準(zhǔn)藥液.定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.光譜對比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度.統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便有效的控制品質(zhì).
24小時(shí)業(yè)務(wù) :139 許