電子芯片冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品型號(hào)
型號(hào) | DR-H203-100 | DR-H203-150 | DR-H203-225 | DR-H203-500 | DR-H203-800 | DR-H203-1000 |
內(nèi)箱尺寸(WxHxD)mm | 400x500x500 | 500x600x500 | 500x750x600 | 700x800x900 | 1000x1000x800 | 1000x1000x1000 |
溫度范圍 | G:-20℃ ~ +100℃(150℃);Z:-40℃ ~ +100℃(150℃);D:-70℃ ~ +100℃(150℃) | |||||
結(jié)構(gòu) | 三箱式(低溫區(qū)、高溫區(qū)、測試區(qū)) / 兩箱式(低溫區(qū)、高溫區(qū)、吊籃) | |||||
氣門裝置 | 強(qiáng)制的空氣裝置氣門 / 吊籃 | |||||
內(nèi)箱材質(zhì) | 鏡面不銹鋼 SUS 304 | |||||
外箱材質(zhì) | 霧面拉絲不銹鋼板 / 冷軋鋼板烤漆 | |||||
測試架 | 不銹鋼架 | |||||
冷凍系統(tǒng) | 二段式 | |||||
冷卻方式 | 半密閉式雙段壓縮機(jī)(水冷式)/全封閉式雙段壓縮機(jī)(風(fēng)冷式) | |||||
高溫區(qū)溫度 | +60 ℃~ +200 ℃ | |||||
低溫區(qū)溫度 | -10 ℃~ -80 ℃ /-10 ℃~ -70 ℃ | |||||
高溫沖擊溫度范圍 | +60 ℃~ +150℃ | |||||
低溫沖擊溫度范圍 | -10 ℃~ -55 ℃ /-10 ℃~ -65 ℃ | |||||
溫度均勻度 | ± 2 ℃ | |||||
溫度波動(dòng)度 | ± 1.0 ℃ | |||||
高溫沖擊時(shí)間 | Rt ~ +150 ℃ /5min | |||||
低溫沖擊時(shí)間 | Rt ~ -55 ℃ /5min Rt ~ -65 ℃ /5min | |||||
預(yù)熱時(shí)間 | 45min | |||||
預(yù)冷時(shí)間 | 100min |
溫度控制與范圍:溫度冷熱沖擊試驗(yàn)箱能夠精確控制高低溫度的范圍,通常低溫可達(dá)-70℃,高溫可達(dá)+150℃或更高。
快速溫度變化:設(shè)備能夠在極短的時(shí)間內(nèi)(通常幾秒到幾分鐘)完成溫度的轉(zhuǎn)換,模擬真實(shí)的溫度沖擊環(huán)境。
溫度波動(dòng)度與均勻性:溫度波動(dòng)度通常要求控制在±0.5℃以內(nèi),溫度均勻度在±2℃以內(nèi),確保試驗(yàn)箱內(nèi)各個(gè)位置的樣品都能經(jīng)歷相似的溫度沖擊條件。
安全保護(hù):具備過溫、過載、短路等多重安全保護(hù)措施,確保試驗(yàn)過程的安全性。
數(shù)據(jù)記錄與分析:現(xiàn)代冷熱沖擊試驗(yàn)箱通常配備有數(shù)據(jù)記錄系統(tǒng),可以實(shí)時(shí)記錄試驗(yàn)數(shù)據(jù),便于后續(xù)分析。
控制系統(tǒng):控制器采用先進(jìn)的可編程觸摸液晶顯示屏,具有PID參數(shù)自整定功能,能夠自動(dòng)進(jìn)行詳細(xì)的故障顯示和報(bào)警。
結(jié)構(gòu)特性:內(nèi)箱材質(zhì)通常采用1.2mm SUS#304不銹鋼,外箱材質(zhì)采用1.2mm冷軋鋼板,表面噴漆處理,保溫層采用高強(qiáng)度PU發(fā)泡與高密度防火玻璃纖維棉(厚度100mm)。
溫度沖擊范圍與恢復(fù)時(shí)間:溫度沖擊范圍可從-30℃至150℃,溫度恢復(fù)時(shí)間通常在5分鐘以內(nèi)。
切換時(shí)間:兩箱式試驗(yàn)箱的樣品轉(zhuǎn)移時(shí)間通常小于10秒,三箱式試驗(yàn)箱則通過控制氣體流動(dòng)來完成溫度沖擊,切換時(shí)間快速。
噪音控制:設(shè)備運(yùn)行時(shí)的噪音控制在65db以內(nèi)。
耐用性和可靠性:設(shè)備采用高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),確保了設(shè)備的高可靠性和使用壽命。
環(huán)保型制冷劑:使用環(huán)保型制冷劑,確保設(shè)備更加符合環(huán)境保護(hù)要求。
冷熱溫度沖擊試驗(yàn)箱的測試標(biāo)準(zhǔn)主要包括以下幾項(xiàng):
GB/T2423.1-2008試驗(yàn)A低溫試驗(yàn)方法:規(guī)定了電工電子產(chǎn)品在低溫條件下的試驗(yàn)方法,適用于評(píng)估產(chǎn)品在低溫環(huán)境下的性能和可靠性。
GB/T2423.2-2008試驗(yàn)B高溫試驗(yàn)方法:規(guī)定了電工電子產(chǎn)品在高溫條件下的試驗(yàn)方法,用于測試產(chǎn)品在高溫環(huán)境下的穩(wěn)定性和耐久性。
GB/T10592-2008高低溫箱技術(shù)條件:涉及高低溫試驗(yàn)箱的技術(shù)條件,包括設(shè)備的性能要求和測試方法。
GJB150.3-1986JUN用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法:高溫試驗(yàn):JUN用標(biāo)準(zhǔn),規(guī)定了JUN用設(shè)備在高溫條件下的試驗(yàn)方法。
GJB360A-96方法107溫度沖擊試驗(yàn)的要求:JUN用標(biāo)準(zhǔn),涉及溫度沖擊試驗(yàn)的具體要求和方法。
IEC60068-2-14基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)范第2部分試驗(yàn)N溫度變化:國際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn),規(guī)定了在特定時(shí)間內(nèi)快速溫度變化試驗(yàn)的方法,包括溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間、保持時(shí)間和極限值等參數(shù)。
ISO16750-4:涉及汽車電子設(shè)備在冷熱沖擊環(huán)境下的試驗(yàn)條件和方法。
電子行業(yè):
智能手機(jī)、平板電腦、筆記本電腦等電子產(chǎn)品的電路板、芯片等核心部件都需要經(jīng)過冷熱沖擊試驗(yàn)箱的測試,以確保其在不同溫度環(huán)境下的穩(wěn)定運(yùn)行。
汽車行業(yè):
汽車的發(fā)動(dòng)機(jī)、變速器、電子控制單元等關(guān)鍵零部件在投入使用前也需在冷熱沖擊試驗(yàn)箱中進(jìn)行檢測,以確保其在溫度下的性能和安全性。
航空航天領(lǐng)域:
飛機(jī)的零部件如發(fā)動(dòng)機(jī)葉片、航空電子設(shè)備等也必須經(jīng)過冷熱沖擊試驗(yàn)箱的檢驗(yàn),以適應(yīng)高空復(fù)雜多變的溫度環(huán)境。
新能源領(lǐng)域:
鋰電池的研發(fā)和生產(chǎn)過程中也使用冷熱沖擊試驗(yàn)箱來測試電池在不同溫度下的性能和安全性。
醫(yī)療器械行業(yè):
心臟起搏器、輸液泵等精密醫(yī)療設(shè)備也需要通過冷熱沖擊試驗(yàn)來保障其在各種溫度條件下的可靠性和穩(wěn)定性。
電子電器零部件:
自動(dòng)化零部件、半成品、金屬、化學(xué)材料、通訊元件、國防工業(yè)、航天、軍工、PCB基板、電子芯片等,測試其瞬間經(jīng)受高溫、低溫的連續(xù)溫度變換環(huán)境下所能忍受的程度。
橡膠、塑膠行業(yè):
用于檢測橡膠、塑膠等材料在反復(fù)冷熱變化下的抵抗能力。
光伏、太陽能材料:
適用于光伏、太陽能等材料的冷熱沖擊測試。
半導(dǎo)體陶磁及高分子材料:
用于半導(dǎo)體陶瓷和高分子材料的物理性變化測試。
BGA、PCB基板和電子芯片IC:
適用于BGA、PCB基板和電子芯片IC的冷熱沖擊測試。
制冷和加熱技術(shù):冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)通過快速切換箱內(nèi)溫度,對(duì)試驗(yàn)樣品進(jìn)行冷熱沖擊測試。制冷系統(tǒng)主要由蒸發(fā)器、壓縮機(jī)、冷凝器和膨脹閥組成,通過逆卡若循環(huán)實(shí)現(xiàn)快速降溫。加熱系統(tǒng)通常采用電加熱元件,通過控制加熱元件的通電時(shí)間和電流大小,使試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度逐漸升高。
溫度控制:冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)采用PID+SSR精確控制系統(tǒng),根據(jù)設(shè)定的溫度范圍和變化速率,自動(dòng)調(diào)節(jié)制冷系統(tǒng)和加熱系統(tǒng)的輸出功率,確保試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度按照預(yù)設(shè)要求進(jìn)行變化。
結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì):根據(jù)結(jié)構(gòu)不同,冷熱沖擊試驗(yàn)箱分為三箱式和兩箱式兩種,它們的工作原理也略有差異。三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱分為高溫箱、產(chǎn)品測試箱和低溫箱三部分,測試箱與高低溫箱通過一個(gè)專門的高低溫閥門分隔開。兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱只有高溫箱和低溫箱兩部分,沒有專門的測試箱。
工作過程:對(duì)于三箱式,設(shè)備啟動(dòng)后,測試箱處于常溫狀態(tài),而高低溫箱則根據(jù)設(shè)定的測試溫度自動(dòng)儲(chǔ)能。儲(chǔ)能結(jié)束后,通過打開對(duì)應(yīng)的高溫或低溫閥門,使高溫或低溫的氣體通過閥門傳送到產(chǎn)品測試區(qū),從而對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行高溫或低溫沖擊測試。兩箱式則是通過移動(dòng)提籃的位置,使測試樣品在高溫箱和低溫箱之間快速移動(dòng),實(shí)現(xiàn)溫度沖擊的效果。
快速溫度轉(zhuǎn)換:冷熱沖擊試驗(yàn)箱能夠?qū)崿F(xiàn)快速的溫度轉(zhuǎn)換,關(guān)鍵在于風(fēng)門的快速開閉和制冷、加熱系統(tǒng)的高效配合。例如,當(dāng)從高溫沖擊轉(zhuǎn)換到低溫沖擊時(shí),控制系統(tǒng)會(huì)立即關(guān)閉高溫室與測試室之間的風(fēng)門,同時(shí)迅速打開低溫室與測試室之間的風(fēng)門,讓低溫空氣涌入。
試樣放置:
試樣體積不得超過試驗(yàn)箱容積的1/3,并且試樣間應(yīng)保持一定間隙。
開機(jī)檢查:
確認(rèn)電源線及接地線連接正常,外接水冷系統(tǒng)連接是否正常,水源是否干凈。
開啟電源:
避免濕手操作,試驗(yàn)箱后側(cè)面的總電源合上,打開面板上的“電源”按鈕,控制器進(jìn)入操作畫面。
試驗(yàn)設(shè)置:
根據(jù)需要設(shè)置高溫預(yù)溫溫度、高溫沖擊溫度、高溫沖擊時(shí)間等參數(shù),并選擇循環(huán)次數(shù)和沖擊選擇(高溫/低溫)。
試驗(yàn)過程中:
運(yùn)轉(zhuǎn)中不得頻繁打開箱門,使用時(shí)門要關(guān)好、關(guān)嚴(yán),以避免溫度外泄和安全事故。
避免頻繁啟動(dòng)冷凍機(jī)組:
避免在三分鐘內(nèi)關(guān)閉再開啟冷凍機(jī)組,以免影響壓縮機(jī)功能。
安全接地:
確保設(shè)備安全確實(shí)接地,以免產(chǎn)生靜電感應(yīng)。
禁止測試危險(xiǎn)物質(zhì):
絕對(duì)禁止試驗(yàn)爆炸性、可燃性及高腐蝕性物質(zhì)。
閱讀說明書:
請(qǐng)?jiān)旈喺f明書后,方可操作本機(jī)。
防護(hù)措施:
在操作過程中,需佩戴適當(dāng)?shù)姆雷o(hù)用品(如手套、防護(hù)眼鏡等),以防樣品碎片或高溫/低溫氣體對(duì)人體造成傷害。
設(shè)備維護(hù):
定期對(duì)試驗(yàn)箱的電氣系統(tǒng)、溫控系統(tǒng)、制冷系統(tǒng)等關(guān)鍵部件進(jìn)行檢查和維護(hù),確保其正常運(yùn)行和延長使用壽命。
緊急情況處理:
如果箱內(nèi)放置發(fā)熱試料時(shí),試料電源控制請(qǐng)使用外加電源,不要直接使用本機(jī)電源。
安全操作規(guī)程遵守:
嚴(yán)格按照試驗(yàn)箱的操作規(guī)程進(jìn)行操作,避免誤操作導(dǎo)致設(shè)備損壞或人身傷害。