阻旋式料位開關TC-UJL－1G
用途  
        TC-UJL系列阻旋式料位開關，可廣泛于各種料倉內固體物料料位上限的定點 

報警或控制。 

阻旋式料位開關TC-UJL－1G
       如礦粉、水泥、煤粉、糧食、飼料、化肥、化纖原料及塑料等干燥物料。 
▲特點  
△體積小，重量輕、安裝方便  
△磁耦合傳遞轉矩，過載時具有“滑脫”功能，可保護電機  
△葉片可合并并自動展開，便于安裝和拆卸  
▲結構原理  

阻旋式料位開關 阻旋料位計 型號：TC-UJL－1G 
       阻旋料位開關是依據(jù)物料對旋轉葉片的阻尼作用而工作的。葉片受阻時，過載檢測器動作， 

斷電器輸出開關信號，實現(xiàn)信號遠傳報警。同時，通過外接控制線路啟、停給料機，可實現(xiàn)料 

產(chǎn)品名稱：三聯(lián)多聯(lián)不銹鋼溶液過濾器/ 微生物檢驗系統(tǒng)（薄膜過濾器） 產(chǎn)品型號：WSW-3

 * 微生物檢驗系統(tǒng)（薄膜過濾器）  型號：WSW-3


【主要特點】　　 
1.一體化小型設計，減小了對實驗操作空間的占用。 
2.二合一功能，不但是可做微生物限度檢查使用，還可當獨立真空泵使用，大大節(jié)省成本。 
3.可同時抽濾2,3,4,6張濾膜，抽濾速度快，工作效率高。 
4.濾杯采用衛(wèi)生級以上鏡面不銹鋼制作，經(jīng)久耐用，耐酸堿，耐高溫，易消毒?？芍貜褪褂茫?jié)省成本，操作方便。 
5.每個濾杯都劃有刻度，濾杯容量小于150ML 
5.每個濾頭采用獨立的閥門控制，并且設計為插拔式安裝方式，方便操作人員靈活使用。也方便實驗人員做消毒殺菌。 
6.配備進口無油雙活塞真空泵，功率強大，流量高達120L每分，負壓接近-0.1MP，過濾速度快。 
7.每臺系統(tǒng)都配備進口負壓表，便于觀察系統(tǒng)的負壓情況 
8..全不銹鋼設計，表面鏡面處理，方便清潔和殺菌消毒。 
【工作原理】 
　　將樣品放入微生物限度濾頭內，通過檢驗儀自帶內置真空泵負壓抽濾，將樣品中微生物截留在濾膜上，用取膜器取出濾膜，轉移至配置好的固體培養(yǎng)基上，菌面朝上，平貼。蓋上蓋子形成封閉的培養(yǎng)盒，置于相應的恒溫培養(yǎng)箱內培養(yǎng)并計數(shù)。 
【使用范圍】 
制藥：純化水、注射用水、眼用制劑、原料藥、膠囊、生物制品、片劑、口服制劑 
化工：各種需測試微生物水樣 食品：純凈水、礦泉水、飲料，環(huán)境監(jiān)測，衛(wèi)生防疫，自來水等行業(yè)。

〖 關閉 

產(chǎn)品名稱：數(shù)字式四探針測試儀 產(chǎn)品型號： ST2253

數(shù)字式四探針測試儀 型號： ST2253 
概述   
      ST2253型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準。 

    儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺以及PC軟件等部分組成。 
    主機主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成，USB通訊接口。儀器主機所有參數(shù)設定、功能轉換全部采用數(shù)字化鍵盤和數(shù)碼開關輸入；具有零位、滿度自校功能；測試功能可自動/手動方式；儀器操作可由配套軟件在PC機上操作完成，也可脫PC機由四探針儀器面板上獨立操作完成。測試結果數(shù)據(jù)由主機數(shù)碼管直接顯示，也可連機由軟件界面同步顯示、分析、保存和打印！ 
     
    探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配探頭，也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。 
     
    測試臺選配：一般四探針法測試電阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選SZT-K型測試臺，也可選配SZT-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率，選配SZT-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。 
      詳見《四探針儀器、探頭和測試臺的特點與選型參考》點擊進入 
    儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、測量簡便、結構緊湊、使用方便等特點。 
    儀器于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。 
三、基本技術參數(shù) 
     
3.1  測量范圍 
     電  阻：1×10-4～2×105 Ω   ，分辨率：1×10-5～1×102 Ω 
    電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm 
    方  阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□ 
3.2  材料尺寸(由選配測試臺和測試方式?jīng)Q定) 
     直    徑：SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限 
    SZT-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限. 
    長(高)度：測試臺直接測試方式 H≤100mm,    手持方式不限. 
    測量方位: 軸向、徑向均可 
3.3.  4-1/2 位數(shù)字電壓表： 
    (1)量程： 20.00mV～2000mV 
   (2)誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字 
3.4 數(shù)控恒流源 
    (1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA，1A 
   (2)誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字 
3.5 四探針探頭（選配其一或加配全部） 
    (1)碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線探針間距1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調 
   (2)薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線或方形探針間距2.0mm，探針壓力: 0～0.6kg 可調 
3.6. 電源 
    輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功        耗：<20W 
3.7.外形尺寸： 
    主   機  220mm（長）×245 mm（寬）×100mm（高） 
   凈   重：≤2.5kg