X-射線金屬鍍層測(cè)厚儀 世界*光學(xué)準(zhǔn)直器,光束zui少可達(dá)0。025mm 集中X-射線光束,強(qiáng)度加強(qiáng)5-8倍適合較薄鍍層測(cè)量,測(cè)量時(shí)間為正常的1/5 配有ZOOM功能,圖像可放大到zui高200倍更新FP方法,適合多層厚度測(cè)量
丁成峰
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