一、SGW X-4顯微熔點(diǎn)儀特點(diǎn)
根據(jù)物理化學(xué)的定義,熔點(diǎn)就是是指物體由固態(tài)向液體轉(zhuǎn)化時(shí)候的溫度。一般物體可以分為晶體和非晶體,只有晶體有熔點(diǎn),非晶體沒有熔點(diǎn)。(晶體又因類型不同而熔點(diǎn)也有所不同,晶體熔點(diǎn)從高到低為:原子晶體>離子晶體>金屬晶體>分子晶體。)測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺(tái)法)測(cè)定。
二、SGW X-4顯微熔點(diǎn)儀主要技術(shù)參數(shù)
熔點(diǎn)測(cè)量范圍:室溫至320℃
測(cè)量重復(fù)性: ±1℃(在<200℃時(shí))
±2℃(在200~300℃時(shí))
光學(xué)放大倍數(shù):目鏡10X;物境4X
三、
本公司供應(yīng)SGW X-4熔點(diǎn)儀,品牌上海申光,型號(hào)SGW X-4,質(zhì)量保障,詳情咨詢陸:!