防護(hù)服靜電衰減性能測(cè)試儀充電電壓:0~5.5kV;配套法拉第測(cè)試籠提供一個(gè)屏蔽空間,試樣放置在法拉第籠內(nèi)進(jìn)行測(cè)試,法拉第籠通過(guò)配套連接線連接406D主機(jī);
主要用途:
防護(hù)服靜電衰減性能測(cè)試儀依據(jù)各種標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范來(lái)進(jìn)行靜電特性檢測(cè)和監(jiān)測(cè),用于實(shí)驗(yàn)室分析材料自身的靜電特性、評(píng)估抗靜電添加劑的功效、發(fā)展新型靜電防護(hù)材料。
技術(shù)特點(diǎn):
1.406D配置的磁吸棒用于薄膜和布匹材料的測(cè)試;
2.金屬夾具可以測(cè)試較厚的塊狀物、發(fā)泡物或其他形狀和質(zhì)地的材料;
3.選配IC管型夾具可以無(wú)損測(cè)試IC芯片包裝管;
4.選配806B無(wú)損測(cè)試電極可以直接放置在試樣上,還可以測(cè)試粉體和液體靜電衰減時(shí)間;
5.配套法拉第測(cè)試籠提供一個(gè)屏蔽空間,試樣放置在法拉第籠內(nèi)進(jìn)行測(cè)試,法拉第籠通過(guò)配套連接線連接406D主機(jī);
6.法拉第籠具有互鎖裝置,打開(kāi)法拉第籠時(shí),高壓電源輸出被切斷;
7.STM-2驗(yàn)證模塊提供一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的電阻,電容直接采取系統(tǒng)電容,通過(guò)測(cè)試STM-2標(biāo)準(zhǔn)模塊可以驗(yàn)證是否正常;
8.位于法拉第籠內(nèi)的靜電壓探測(cè)頭可以卸下,放置在806B無(wú)損電極上后,可以直接測(cè)試粉體、液體和固體試樣.
防護(hù)服靜電衰減性能測(cè)試儀技術(shù)參數(shù):
1.充電電壓:0~5.5kV;
2.誤差期設(shè)置:50%、10%、1%(0);
3.電壓表量程:0-5kV;
4.計(jì)時(shí)器量程:1-99.99s;
5.計(jì)時(shí)分辨率:0.01s;
6.自動(dòng)測(cè)試次數(shù):1-9次;
7.測(cè)試時(shí)間間隔:1-25秒;
8.輸入電源:86-264VAC,50/60Hz;
9.測(cè)試模式:手動(dòng)、自動(dòng)(只能測(cè)試從5kV開(kāi)始的衰減);
10.顯示模式:指針式充電電壓表(右)、指針式試樣電壓表(左)、數(shù)顯計(jì)時(shí)器(中),彩色LED燈指示各個(gè)操作進(jìn)程.
主要配置:
1.406D測(cè)試主機(jī);
2.法拉第測(cè)試籠;
3.磁性固定電極;
4.條形夾具;
5.STM-2驗(yàn)證模塊;
6.選配:806B無(wú)損測(cè)試電極.
符合標(biāo)準(zhǔn):
美國(guó)無(wú)紡布靜電衰減測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IST 40.2(01),美國(guó)聯(lián)邦標(biāo)準(zhǔn)FED-STD-101C(Method 4046),MIL-B-81705C,MIL-PRF-81705D,GB/T 19082,GJB2625